2026-03-11T17:21:47Z https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/oai

oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00174124 2025-01-20T07:00:54Z 1164:2240:8543:8882

仮想マシンエミュレータを用いた特定故障パターン発生時におけるアプリケーションの誤差の評価 小林, 佑矢 實本, 英之 野村, 哲弘 松岡, 聡 耐故障システム 高性能計算機の規模は年々大きくなっている．大規模化に伴う故障率の増加により，Silent Data Corruption (SDC) と呼ばれる問題が深刻になると予想されている．SDC はアプリケーションが異常な結果を出力するが，停止には至らないため計算結果の誤りを検知できない障害である．SDC に対処するため多くの研究が行われたが，計算機の変化とともに故障の種類や発生傾向も変化しており，新たな耐故障手法が求められている．本研究は連続したメモリデータの破壊または複数のビットエラーが DRAM 上に発生した際に，NAS Parallel Benchmark の CG カーネルに現れる SDC の調査を目的とする．またそのために，DRAM に特定の故障パターンを注入する故障発生器を，仮想マシンエミュレータである QEMU を拡張して作成した．これにより，SDC が発生しうること，アプリケーションの特性により SDC の発生割合が約 5%減少することを確認した．また連続したデータ破壊が発生したとき，アプリケーションは約 80%の割合で正常な結果を返すが，同じビット数のビットエラーを注入した際には約 90%の割合で異常終了することを確認した． technical report 情報処理学会 2016-08-01 application/pdf 研究報告ハイパフォーマンスコンピューティング（HPC） 10 2016-HPC-155 1 7 2188-8841 AN10463942 https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/record/174124/files/IPSJ-HPC16155010.pdf jpn