2026-05-20T10:03:39Z https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/oai

oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00200152 2025-01-19T21:26:35Z 1164:2822:9758:9962

単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル NBTI Model Replicating AC Stress / Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement 保坂, 巧 西澤, 真一 岸田, 亮 松本, 高士 小林, 和淑 T., Hosaka S., Nishizawa R., Kishida T., Matsumoto K., Kobayashi 本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性 (NBTI) モデルを提案する．提案モデルは反応拡散 (tn) およびホールトラッピング (log(t)) モデルに基づいている．単発長期の DC ストレス/リカバリ測定から得られたデータを利用し，DCストレス/リカバリだけでなく AC ストレス/リカバリを表現可能なモデルパラメータを抽出する．モデルパラメータ抽出に優先順位をつけることで，デューティ比の異なる AC ストレス/リカバリ特性を表現可能であることを示す． In this paper, simple and compact Negative Bias Temperature Instabilily (NBTI) model is proposed. The model is based on the reaction-difiusion (tn) and hole-trapping (log(t)) theories. Data with a single shot of DC stress and recovery are utilized to extract model parameters. Our key idea is setting the priority in the model fitting process to be possible for replicating AC dependency of NBTI stress and recovery effect. The proposed model successfully replicates stress and recovery with various duty cycles. 情報処理学会 2019-11-06 jpn technical report https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/200152 2188-868X AA12149313 研究報告組込みシステム（EMB） 2019-EMB-52 12 1 6 https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/record/200152/files/IPSJ-EMB19052012.pdf application/pdf 707.1 kB