2026-03-08T05:25:44Z https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/oai

oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00183957 2025-01-20T03:27:30Z 1164:2036:9049:9273

スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について Flip-Flop Selection for Multi-Cycle Test with Partial Observation in Scan-Based Logic BIST 大島, 繁之 加藤, 隆明 王, 森レイ 佐藤, 康夫 梶原, 誠司 Shigeyuki, Oshima Takaaki, Kato Senling, Wang Yasuo, Sato Seiji, Kajihara テスト生成およびテスト容易化設計 論理 BIST における故障検出率向上のために，マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ (FF) 値の中間観測手法が提案されている．しかし既存手法では，中間観測する FF 数，すなわち中間観測による面積オーバヘッドと故障検出率とはトレードオフの関係にある．本研究では，テスト対象回路の回路接続情報を解析することで，故障検出率向上及び回路面積増大を抑制する中間観測 FF 選出手法を提案する．評価実験により，面積オーバヘッドは既存手法から 87.5% 削減が可能であることを確認できた． A logic BIST scheme using multi-cycle test with partial observation has been proposed. In the scheme, the selection of flip-flops for partial observation plays an important role for improving the fault coverage and reducing the area overhead. This paper proposes a selection method of flip-flops for partial observation that can maximize the fault coverage under the limitation of the number of flip-flops. Experimental results show that the proposed method can obtain higher fault coverage than the existing flip-flop selection method and results in less area overhead. 情報処理学会 2017-10-30 jpn technical report https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/183957 2188-8639 AA11451459 研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM） 2017-SLDM-181 16 1 6 https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/record/183957/files/IPSJ-SLDM17181016.pdf application/pdf 741.1 kB