2026-05-13T00:33:58Z https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/oai

oai:ipsj.ixsq.nii.ac.jp:00027143 2025-01-22T18:40:42Z 1164:2036:2055:2057

電流基板制御方式による基板ノイズ低減及びランダムばらつき抑制効果 substrate-Noise and Random-Fluctuations Reduction with Self-Adjusted Forward Body Bias 小松, 義英 石橋, 孝一郎 塚田敏郎 山本雅晴 島崎, 健二 深澤, 光弥 永田, 真 Yoshihide, Komatsu Koichiro, Ishibashi Masaharu, Yamamoto Toshiro, Tsukada Kenji, Shimazaki Mitsuya, Fukamwa Makoto, Nagata セルフアジャスト順方向基板制御方式（SA－FBB）を用いた際の基板ノイズ低減効果、及びランダムばらつき低減効果について報告する。効果を測定、確認するために2つのテストチップを用意した。1つ目のチップには様々な周波数のノイズ源とそのノイズを検出するためのオンチップオシロスコープが搭載していて、基板制御時のノイズ低減効果が測定できる。130nmCMOS、3－wellプロセスを用いた。2つ目のチップには10M個のトランジスタを搭載し、基板制御を行った際のランダムぱらつきの傾向の測定ができる。SA－FBBを用いると基板ノイズ（Wellノイズ）は最大70.2％低減効果があり、ランダムばらつきб(Ids)は最大57.9％程度低減効果がある。 We propose a method of reducing substrate noise and random fluctuations utilizing a self-adjusted forward body bias (SA-FBB) circuit. To achieve this, we designed a test chip that contained an on-chip oscilloscope for detecting dynamic noise from various frequency noise sources, and another test chip that contained 10-M transistors for measuring random fluctuation tendencies. Under SA-FBB conditions, it reduced noise by 69.8% and reduced random fluctuations б(Ids) by 57.9%. 情報処理学会 2005-10-21 jpn technical report https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/27143 AA11451459 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 2005 102(2005-SLDM-121) 125 130 https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/record/27143/files/IPSJ-SLDM05121021.pdf application/pdf 980.2 kB 2007-10-21