WEKO3
アイテム
二重化よりも面積オーバーヘッドが少ない耐故障化手法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/96072
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/9607252370f96-74d4-4c50-98ee-98d06b8321a6
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Copyright (c) 2013 by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
This SIG report is only available to those in membership of the SIG. |
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SLDM:会員:¥0, DLIB:会員:¥0 |
Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
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公開日 | 2013-11-20 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | 二重化よりも面積オーバーヘッドが少ない耐故障化手法 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | Fault-Tolerant Design with Less Overhead than DMR | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
キーワード | ||||||||
主題Scheme | Other | |||||||
主題 | 信頼性 | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
資源タイプ | technical report | |||||||
著者所属 | ||||||||
立命館大学大学院理工学研究科 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
立命館大学大学院理工学研究科 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Graduate School of Science and Engineering Ritsumeikan University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Graduate School of Science and Engineering Ritsumeikan University | ||||||||
著者名 |
松尾, 惇士
× 松尾, 惇士
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著者名(英) |
Atsushi, Matsuo
× Atsushi, Matsuo
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論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 本論文では,Partially-Programmable Circuits (PPC) を用いた歩留まり向上手法を新たに二つ提案する.提案手法では,LSI の歩留まりを向上させるために近年提案された PPC に MUX と LUT と複数の冗長な結線を用いて故障をバイパスする.提案手法を実現するために本論文では新しい概念である Remaining SPFD を提案する.我々の提案手法を用いることにより,回路をすべて複製する二重化よりもオーバーヘッドが小さい耐故障回路を作成することが期待できる. | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | This paper proposes two methods to increase yeild by using Partially-Programmable Circuits (PPCs) that are proposed to increase yeild recently. In our proposed methods, we add MUXs, LUTs and multipule redundant connections into a PPC to bypass a fault. To realize our proposed methods, we develop a new concept called Remaining SPFD. Remaining SPFD can be considered as an extension of SPFDs whhich are used to represent functional flexibilities for LUT networks. Compared to Dual Module Redundancy (DMR), our proposed methods do not duplicate an entire circuit. Therefore our proposed methods can realize fault-tolerant circuits with less overhead than DMR. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
書誌情報 |
研究報告システムLSI設計技術(SLDM) 巻 2013-SLDM-163, 号 7, p. 1-5, 発行日 2013-11-20 |
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Notice | ||||||||
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |