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アイテム
フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/86974
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/86974f23e7e67-a8ce-4835-a5bb-7c242d03eb95
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SLDM12158043.pdf (479.5 kB)
2100年1月1日からダウンロード可能です。
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Copyright (c) 2012 by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
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| SLDM:会員：¥0, DLIB:会員：¥0 | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2012-11-19 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | Design of temperature and voltage monitoring circuit structure for field test | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | テスト | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 九州工業大学／独立行政法人科学技術振興機構CREST | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 九州工業大学／独立行政法人科学技術振興機構CREST | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 九州工業大学／独立行政法人科学技術振興機構CREST | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 九州工業大学／独立行政法人科学技術振興機構CREST | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 首都大学東京／独立行政法人科学技術振興機構CREST | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Kyushu Institute of Technology / Japan Science and Technology Agency, CREST | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Kyushu Institute of Technology / Japan Science and Technology Agency, CREST | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Kyushu Institute of Technology / Japan Science and Technology Agency, CREST | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Kyushu Institute of Technology / Japan Science and Technology Agency, CREST | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Tokyo Metropolitan Univ / Japan Science and Technology Agency, CREST | ||||||||
| 著者名 |
津森, 渉
× 津森, 渉
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| 著者名(英) |
Wataru, Tsumori
× Wataru, Tsumori
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | システムの信頼性の確保のために，フィールドでの LSI の劣化による回路遅延の増加を，障害の発生する前に検知する必要がある． LSI の劣化は，フィールドでの回路の遅延値を繰り返し測定することで，検知が可能と考えられるしかし測定される遅延値は，温度や電圧等のシステムの動作環境によって大きく変動するため，これらの環境要因による量を把握し，測定遅延値から劣化遅延成分のみを取り出す必要があるこの温度と電圧は，チップ内に配置した複数種類のリングオシレータの周波数から推定する方法が提案されている本研究は，温度と電圧の推定精度向上のために，リングオシレータの回路構成と最適な組み合わせ方法を検討する． | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | For improving reliability of LSIs, the delay increase caused by aging during system operation should be detected before a system failure occurs. Such a delay increase can be detected by repeatedly measuring a circuit delay in field. However, the measured delay tends to vary a lot depending on temperature and voltage variations, therefore, it is necessary to get an accurate delay increase without these variations. A method has been proposed that estimates temperature and voltage from the frequencies of the multiple ring-oscillators on a chip. This paper tries to find the best configuration of the ring-oscillators in order to improve its estimation accuracy. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
| 書誌情報 |
研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 巻 2012-SLDM-158, 号 43, p. 1-6, 発行日 2012-11-19 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
