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アイテム
スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/79476
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/79476d4d32cb9-99ae-4be9-a154-c09780a2f200
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SLDM11153021.pdf (397.4 kB)
2100年1月1日からダウンロード可能です。
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Copyright (c) 2011 by the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
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| SLDM:会員：¥0, DLIB:会員：¥0 | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2011-11-21 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | Improvement of Test Data Compression Rate for Chiba-Scan Testing by Reconstructing Scan Chain | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | テスト設計 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 千葉大学大学院融合科学研究科 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 千葉大学大学院融合科学研究科 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 千葉大学大学院融合科学研究科 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Advanced Integration Science, Chiba University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Advanced Integration Science, Chiba University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Advanced Integration Science, Chiba University | ||||||||
| 著者名 |
赤川, 慎人
× 赤川, 慎人
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| 著者名(英) |
Masato, Akagawa
× Masato, Akagawa
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | テスト容易化設計のうち近年増加している遅延故障の検出に対応した手法の］種にスキャン設計がある．このスキャン設計の 1 つとして千葉大スキャンが提案された．千葉大スキャンはスタンダードスキャンと同じくらいの面積オーバヘッドで実装でき，100％ のロバストまたはノンロバストパス遅延故障検出率を実現した手法である．しかし，特殊なテスト手順を必要とするため，テストパターンが増加する問題点がある．さらに，その特殊なテスト手順のために，既存のテストデータ圧縮手法の圧縮率もスタンダードスキャン等の場合に比べ低くなる．そこで，本研究ではスキャンチェーンを再構成することで，既存テストデータ圧縮手法の千葉大スキャンに対する圧縮率を向上させる手法を提案する．本手法では，圧縮作業以前にスキャンチェーンを再構成することで圧縮効率を向上させている．これによりスキャンチェーンを再構成しなかった場合と比較して平均で 29.5％ の圧縮率向上を得ている． | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | Scan design is one of design for testing. Chiba-Scan proposed in 2005 is one of scan design for delay fault testing. Chiba-Scan has complete fault coverage for robust and nonrobust path delay fault testing without extra latches. However, the test data is much larger than that of other scan design. This paper presents a method improving test data compression rate for Chiba-Scan. This method only reconstructs scan chain before test data compression. In experiment, existing compression with the proposed method improves test data compression rate 29.5% for ISCAS89 benchmark circuits compared to that without the proposed method. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
| 書誌情報 |
研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 巻 2011-SLDM-153, 号 21, p. 1-6, 発行日 2011-11-21 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
