WEKO3
アイテム
デザインパターンを用いたCDIツールのアーキテクチャとその実現
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/69646
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/696464d83227a-9ed6-4b84-ad14-b67700e049d6
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
Copyright (c) 2010 by the Information Processing Society of Japan
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オープンアクセス |
Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
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公開日 | 2010-05-25 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | デザインパターンを用いたCDIツールのアーキテクチャとその実現 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | Architectural Design and Implementation of a Code Inspection Tool using Design Patterns | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
キーワード | ||||||||
主題Scheme | Other | |||||||
主題 | プログラム解析技術 | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
資源タイプ | technical report | |||||||
著者所属 | ||||||||
南山大学数理情報研究科 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
南山大学情報理工学部 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
南山大学情報理工学部 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
南山大学情報理工学部 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Graduate School of Mathematical Sciences and Information Engineering, Nanzan University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Faculty of Information Sciences and Engineering, Nanzan University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Faculty of Information Sciences and Engineering, Nanzan University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Faculty of Information Sciences and Engineering, Nanzan University | ||||||||
著者名 |
浦野, 彰彦
× 浦野, 彰彦
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著者名(英) |
Akihiko, Urano
× Akihiko, Urano
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論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 本稿では,コードインスペクションツール (CDI ツール) のアスペクト指向アーキテクチャを構築し,デザインパターンを用いた実現について議論する.CDI ツールは,ソースコードを静的に解析し,ソースコード中の欠陥の可能性があるコード片を発見するソフトウェアである.CDI ツールには,検査精度の向上や,空間効率の改善などの様々な要求が存在する.我々はこれらの要求をアーキテクチャに横断するコンサーンとして捉えて,デザインパターンを用いて実現し,その妥当性について考察する. | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | We designed an aspect-oriented architecture for code inspection (CDI) tool and considered its implementation using design patterns. A CDI tool detects defects in source codes using static analysis. We recognize various requirements for CDI tool such as accurate defect detection and space efficiency. We regard them as concerns cross cutting the architecture and implemented them using design patterns. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AA12149313 | |||||||
書誌情報 |
研究報告組込みシステム(EMB) 巻 2010-EMB-17, 号 11, p. 1-7, 発行日 2010-05-25 |
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Notice | ||||||||
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |