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アイテム
プロセスおよびプロダクトメトリクスを用いたFault-Proneクラス予測の適用事例
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/69640
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/696400042f979-449a-4cf8-93ed-1c1b2649dd7a
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-EMB10017006.pdf (675.4 kB)
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Copyright (c) 2010 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2010-05-25 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | プロセスおよびプロダクトメトリクスを用いたFault-Proneクラス予測の適用事例 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | A Case Study on Predicting Fault-Prone Classes with Process and Product Metrics | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 品質見積もり技術 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| NEC | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| NEC | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| NEC | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 東洋大学 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| NEC Corporation | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| NEC Corporation | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| NEC Corporation | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Toyo University | ||||||||
| 著者名 |
纐纈, 伸子
× 纐纈, 伸子
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| 著者名(英) |
Nobuko, Koketsu
× Nobuko, Koketsu
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 筆者らの所属する組織では，従来のプロセスメトリクスを中心とした品質保証活動に加えて，プロダクトメトリクスを活用した精度の高い品質保証の導入を検討している．fault-prone (FP) モジュール予測技法は，このニーズに対する有効な手段と考えられる．本稿では，筆者らの組織で実際に開発された製品のデータを用いて，機能テスト工程以降に摘出される欠陥を対象とした FP クラスの予測モデルを構築した試みについて述べる．プロダクトメトリクスのみを用いて FP クラス予測モデルを構築した場合と，プロセスメトリクスを組み合わせて予測モデルを構築した場合を比較した結果，後者の方が高い予測精度が得られることがわかった．また，実際のテスト工程で FP 予測を用いることで品質を早期に安定させる方法について考察を行ったのであわせて報告する． | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | The general purpose of our study is to introduce a more precise and effective quality assurance practice into our software development organization that has been applying quality assurance activities mainly focusing on process metrics. The fault-prone (FP) module prediction technique is one of promising techniques that meets our goal. In this paper, we explain our attempt to build several FP class prediction models to predict defects that would be detected in a functional testing phase by using our actual product development data. We found that the models built by using both process and product metrics showed better performance than the ones built by using only product metrics. We also discuss practical consideration how to apply the FP technique to a testing phase in practice to stabilize software quality earlier than before. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA12149313 | |||||||
| 書誌情報 |
研究報告組込みシステム（EMB） 巻 2010-EMB-17, 号 6, p. 1-8, 発行日 2010-05-25 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
