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ソフトウェアテストの最新動向：0.編集にあたって
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/60848
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/6084842fb3a3c-556b-4bc9-abc0-8ef3f2f6e186
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-MGN490202.pdf (807.8 kB)
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Copyright (c) 2008 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | Magazine(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2008-02-15 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | ソフトウェアテストの最新動向：0.編集にあたって | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | Hot Topics on Software Testing : Foreword | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 特集 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||
| 資源タイプ | article | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 日立 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 香川大学 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 電気通信大学 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Hitachi, Ltd. | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Kagawa Univ. | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Univ. of Electro-Communications | ||||||||
| 著者名 |
深谷, 直彦
× 深谷, 直彦
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| 著者名(英) |
Naohiko, FUKAYA
× Naohiko, FUKAYA
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| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AN00116625 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理 巻 49, 号 2, p. 126, 発行日 2008-02-15 |
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| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
