動作マージンを確保可能なディジタル LSI の製造後クロック調整手法の提案

• Item type: Trans(1)
• 公開日: 2009-03-27
• タイトル: 動作マージンを確保可能なディジタル LSI の製造後クロック調整手法の提案
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Post-fabrication Clock-timing Adjustment for Digital LSIs Ensuring Operational Timing Margins
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: オリジナル論文
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
• 資源タイプ: journal article
• 著者所属: 東邦大学大学院理学研究科
• 著者所属: 産業技術総合研究所情報技術研究部門
• 著者所属: 産業技術総合研究所情報技術研究部門
• 著者所属: 東邦大学大学院理学研究科
• 著者所属: 産業技術総合研究所情報技術研究部門
• 著者所属: 三洋電機株式会社
• 著者所属: 三洋電機株式会社
• 著者所属: 三洋電機株式会社
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Science, Toho University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Science, Toho University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Sanyo Electric Co., Ltd.
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Sanyo Electric Co., Ltd.
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Sanyo Electric Co., Ltd.
• 著者名: 諏佐, 達也; 村川, 正宏; 高橋, 栄一; 古谷, 立美; 樋口, 哲也; 古市, 愼治; 上田, 佳孝; 和田, 淳
• 著者名(英): Tatsuya, Susa; Masahiro, Murakawa; Eiichi, Takahashi; Tatsumi, Furuya; Tetsuya, Higuchi; Shinji, Furuichi; Yoshitaka, Ueda; Atsushi, Wada
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 製造ばらつきにより発生するクロック・スキューの問題を解決するための手法として，遺伝的アルゴリズムを用いたディジタル LSI の製造後クロック調整技術が提案されている．しかし，調整後のチップの一部で不安定な動作が確認されるという問題点がある．これは電源電圧や温度などの環境変動が原因と考えられる．そこで本研究では，動作想定条件よりも厳しい条件で調整することによりタイミング余裕を確保し，さらに，GA の終了条件を段階的に厳しくすることで限られた調整時間内で環境変動に対する頑健性を向上させうるディジタル LSI の製造後クロック調整手法を提案する．実用的回路の設計データを用いた調整シミュレーション実験の結果，タイミング余裕を確保したうえで歩留りを向上させることに成功した．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: As LSI devices are increasingly implemented with finer patterns (below 100 nm) and operating at faster clocks, the problem of fluctuations in clock timing (also known as the "clock skew"problem) becomes even more crucial. In order to solve the problems associated with clock timing, our group has proposed a Genetic Algorithm (GA) based clock adjustment method. Although the GA successfully adjusted the clock timing of the test chips, some of the adjusted chips were found to operate at lower levels of accuracy. This is because the clock timings were adjusted to the very margins of feasible timings to pass the function tests. To overcome this difficulty, we propose an improved GA based clock adjustment method which ensures that the adjustment results are sufficiently robust to cope with fluctuations in the LSI environment. Adjustment experiments using the developed simulator demonstrate that our method can enhance the operational yield while maintaining adequate operational timing margins.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11464803
• 書誌情報: 情報処理学会論文誌数理モデル化と応用（TOM）; 巻 2, 号 2, p. 122-131, 発行日 2009-03-27
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 1882-7780
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会