超精度の楕円当てはめ

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2005-11-18
• タイトル: 超精度の楕円当てはめ
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Ellipse Fitting with Hyperaccuracy
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 岡山大学大学院自然科学研究科
• 著者所属: 岡山大学大学院自然科学研究科
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Computer Science, Okayama University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Computer Science, Okayama University
• 著者名: 山田, 純平; 金谷健一
• 著者名(英): Junpei, Yamada; KenichiKanatani
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 平面上の点列に楕円を当てはめる同塵は，従来から最尤推定が最も高精度であるとみなされ くりこみ法，HEIV法，FNS法などの計算法が提案されている．本論文ではこれを上回る「超精度」の当てはめ法が存在することを理論的および実験的に検証する．これは最尤推定の摂動解析によって高次の偏差項を評価し，これを最尤推定解から差し引くものである．ただし，最尤推定解は既に精度をこ理萄限界で卑るKCR下界をほぼ達成しているので，補正による効果は非常にわずかである．このため，提案方法によらで実際の応用で実質的卑差が生じることはないが，当てはめの精度の理論限界と最尤推定に関して，理論的な観点から意味のある結果である．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: For fitting an ellipse to a point sequence in 2-D, maximum likelihood (ML) estimation has been regarded as having the highest accuracy, and numerical schemes such as renormalization, EEIV, and FNS have been proposed for computing the solution. In this paper, we demonstrate, theoretically and experimentally, the existence of a "hyperaccurate" method having higher accuracy than ML. The hyperaccuracy is achieved by perturbation analysis of the ML solution followed by evaluation of the high-order bias terms and subtraction of them from the ML solution. However, since the ML solution almost attains the theoretical accuracy bound (the KCR lower bound), the resulting improvement is too small to produce noticeable difference in practical applications. Yet, our analysis has theoretical significance, illuminating the relationship between accuracy of the ML solution and the theoretical accuracy bound.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11131797
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告コンピュータビジョンとイメージメディア（CVIM）; 巻 2005, 号 112(2005-CVIM-151), p. 107-114, 発行日 2005-11-18
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会