WEKO3
アイテム
ステレオカメラと位相シフトによる拡散反射面と鏡面の３次元形状計測
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/52090
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/520909b2a9b49-4137-4658-968b-af53a179277f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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IPSJ-CVIM07157007.pdf (876.9 kB)
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Copyright (c) 2007 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2007-01-11 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | ステレオカメラと位相シフトによる拡散反射面と鏡面の３次元形状計測 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | High-Accuracy Three-Dimensional Measurement of Lambertian and Specular Surfaces Using Stereo Cameras and Phase-Shift | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 立命館大学情報理工学部 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 立命館大学情報理工学部 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 立命館大学情報理工学部 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 立命館大学情報理工学部 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Faculty of Information Science and Engineering, Ritsumeikan University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Faculty of Information Science and Engineering, Ritsumeikan University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Faculty of Information Science and Engineering, Ritsumeikan University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Faculty of Information Science and Engineering, Ritsumeikan University | ||||||||
| 著者名 |
徐剛
× 徐剛
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| 著者名(英) |
Gang, XU
× Gang, XU
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 文化財のデジタルアーカイブだけでなく，工業計測においても精緻で高精度な3次元形状計測が求められている．本稿では，ステレオカメラと位相シフトを用いて，拡散反射面の3次元形状計測について述べたあと，鏡面反射面の3次元計測に拡張する．高精度な3次元計測の前提として，ステレオカメラの高精度キャリブレーションが必要である．拡散反射面の計測の場合はプロジェクタを用いるが，鏡面反射面の計測にはディスプレイを用いる．拡散反射面の計測精度は平面のばらつきで評価したところ，20センチの計測範囲に対して20ミクロン程度であった．鏡面反射面の計測については実験中であり，結果が本稿には間に合わなかった． | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | High accuracy 3D measurement is not only important for digital archiving of cultural heritage, but also very important for industrial inspection. In this paper, we first describe our system to measure 3D shape of Lambertian surfaces by stereo cameras and a phase-shift projector, and then we extend the method to measuring 3D shape of specular surfaces using stereo cameras and a display showing two-dimensional sine waves. To achieve high-accuracy measurement, high-accuracy calibration of stereo cameras is necessary. We achieved a 20 micrometer RMS for a planar Lambertian surface of 200 millimeter wide. Experiments are under way for specular surfaces. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11131797 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告コンピュータビジョンとイメージメディア（CVIM） 巻 2007, 号 1(2007-CVIM-157), p. 45-51, 発行日 2007-01-11 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
