WEKO3
アイテム
対称SIFＴ特徴量を用いた対称性平面物体検出
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/51945
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/51945b5ff2355-8d5b-4365-b200-c61a1e990953
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-CVIM08161026.pdf (777.2 kB)
|
Copyright (c) 2008 by the Information Processing Society of Japan
|
|
| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2008-01-18 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 対称SIFＴ特徴量を用いた対称性平面物体検出 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | Plane-Symmetric Object Detction using Symmetrical SIFT Features | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 和歌山大学システム工学部 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 和歌山大学システム工学部 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 和歌山大学システム工学部 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 和歌山大学システム工学部 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of System-Engineering Wakayama University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of System-Engineering Wakayama University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of System-Engineering Wakayama University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of System-Engineering Wakayama University | ||||||||
| 著者名 |
佐野, 友祐
× 佐野, 友祐
|
|||||||
| 著者名(英) |
Yuusuke, SANO
× Yuusuke, SANO
|
|||||||
| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 本論文では、対称 SIFＴ 特徴量を提案する．対称 SIFＴ 特徴量とは、SIFＴ 特徴量記述の際に，特徴点の周辺領域の座標系を正規化して得られる特徴量である．対称ペアである特徴点間の類似度評価が可能となり，擬似的に対称性平面物体のアフィン変換にも対応する．提案手法では，対称 SIFＴ 特徴量とスケール情報を用いて，一枚の入力画像から対称性平面物体の検出を行う．提案手法の有効性を，複数枚の実物体を用いた実験で確認した． | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | In thie paper, a mirrored SIFT feature is proposed for detecting plane-symmtric objects. This feature can be used to evaluate the symmetric-pair likeness of feature points of a pseudo affine transformed plane-symmetric object. Plane-symmetric object detection is carried out by using the proposed mirrored SIFT feature and scale feature. The effectiveness has been confirmed through several experiments using real images. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11131797 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告コンピュータビジョンとイメージメディア（CVIM） 巻 2008, 号 3(2008-CVIM-161), p. 171-176, 発行日 2008-01-18 |
|||||||
| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
