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VLSIのテスト容易化設計：マイクロプロセッサにおけるテスト容易化設計
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/4961
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/49614936d660-c514-4ebd-9f4e-55f7b14a3ebf
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-MGN301207 (536.4 kB)
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Copyright (c) 1989 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | Magazine(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1989-12-15 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | VLSIのテスト容易化設計：マイクロプロセッサにおけるテスト容易化設計 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | Design for Testability of Custom VLSI Circuits | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 特集 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||
| 資源タイプ | article | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 中央大学 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Chuo Univ. | ||||||||
| 著者名 |
古屋, 清
× 古屋, 清
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| 著者名(英) |
Furuya, Kiyoshi
× Furuya, Kiyoshi
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| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AN00116625 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理 巻 30, 号 12, 発行日 1989-12-15 |
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| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
