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VLSIのテスト容易化設計：PLAにおけるテスト容易化設計法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/4959
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/4959f911fc55-d818-480b-857f-bc150707c27e
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-MGN301205 (536.4 kB)
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Copyright (c) 1989 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | Magazine(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1989-12-15 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | VLSIのテスト容易化設計：PLAにおけるテスト容易化設計法 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | Testable PLA Design Methodology | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 特集 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||
| 資源タイプ | article | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| Department of Computer Science Meiji University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Department of Computer Science, Meiji University | ||||||||
| 著者名 |
山田, 輝彦
× 山田, 輝彦
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| 著者名(英) |
Yamada, Teruhiko
× Yamada, Teruhiko
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| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AN00116625 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理 巻 30, 号 12, 発行日 1989-12-15 |
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| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
