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EFSM適合性試験系列自動生成における系列長短縮化について
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/35103
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/351032a12f9c5-d752-419d-b72b-70db0544732e
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-DPS98091019.pdf (805.2 kB)
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Copyright (c) 1999 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1999-01-21 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | EFSM適合性試験系列自動生成における系列長短縮化について | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | A Method of Generating Efficient Test Suites for Conformance Testing of EFSM Protocols | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 大阪大学大学院基礎工学研究科 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 大阪大学大学院基礎工学研究科 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 大阪大学大学院基礎工学研究科 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Engineering Science, Osaka University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Engineering Science, Osaka University | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Graduate School of Engineering Science, Osaka University | ||||||||
| 著者名 |
別府, 明
× 別府, 明
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| 著者名(英) |
Akira, Beppu
× Akira, Beppu
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 本論文では拡張有限状態機械(EFSM)モデル通信プロトコルのための適合性試験スイートの短縮化について議論する．我々の研究グループで提案しているEFSMのサブクラスであるカウンタ付き有限状態機械(FSM-C)に対する適合性試験系列生成手法では，すべての単一誤りを検出可能であるが，各試験項目で独立に試験系列を生成しているため試験スイートが長くなり試験の実施効率上で問題があった．そこで本論文では，複数の試験項目に共通して用いることができる試験系列を生成する手続きを提案する．また，提案手法に基づく試験スイート生成システムを作成し，生成された試験スイートの系列長が以前の手法で生成されたものの20％以下に短縮されたことが確認できた． | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | In this paper, we propose the method of generating efficient test suites for conformance testing of communication protocols modeled as Finite-State Machine with Counters(FSM-C), a class of Extended Finite-State Machines (EFSM). Previously, we proposed a test suite generation method for FSM-C. The test suites can detect all single fault of the implementation, but those are not efficient, because every test case is generated for sigle test item, individually. We investigate a generating procedure of test cases which can be used for multiple test items. We also developed a test suite generating system based on the proposed method, and verified that the length of the test suites generated by the system is shorter than 20 % of those generated by the previous test suite generation method for some sample protocols. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AN10116224 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告マルチメディア通信と分散処理（DPS） 巻 1999, 号 4(1998-DPS-091), p. 109-114, 発行日 1999-01-21 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
