モデル検査器NuSMVを利用したテストケース自動生成

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2008-03-28
• タイトル: モデル検査器NuSMVを利用したテストケース自動生成
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Automatically Generating Testcases with the NuSMV Model Checker
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 大阪大学基礎工学部
• 著者所属: 大阪大学大学院情報科学研究科
• 著者所属: 大阪大学大学院情報科学研究科
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): School of Engineering Science, Osaka University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Information Science Technology, Osaka University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Information Science Technology, Osaka University
• 著者名: 門野, 雅弥; 土屋, 達弘; 菊野, 亨
• 著者名(英): Masaya, Kadono; Tatsuhiro, Tsuchiya; Tohru, Kikuno
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: ソフトウェアの信頼性を向上させるための様々なテスト手法が存在する．本研究では，テスト手法の1つである状態遷移テストに着目する．状態遷移テストは，ソフトウェアシステムの動作を状態図や状態遷移表で表したモデルに基づいて，すべての状態や遷移を網羅するようなテストを行う技術である．この手法を利用して手作業でテストケースを生成できるのは，状態数が非常に少なく遷移条件が単純な場合に限られるため，自動化手法が強く求められている．そこで本研究では，状態図からすべての状態を網羅するテストセットを，モデル検査器NuSMVを利用して自動生成する手法を提案するNuSMVの網羅的かつ強力な状態空間探索技術を用いることで，複雑なシステムに対しても漏れなくテストケースを生成することができる．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: There are various testing methods of improving the reliability of software. In this study, we consider state transition testing. State transition testing is one of the testing methods based on specifications described as statecharts or state transition tables. This testing method requires that testcases cover all states or all transitions. Manual testcase generation is feasible only when the number of system states is very small and transition conditions are very simple; thus an automatic method is required. In this study, we propose a method that automatically generates testcases with the NuSMV model checker to cover all states. Using the exhaustive state space search method of the NuSMV model checker, we can generate testcases for complex systems in reasonable time.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA12149313
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告組込みシステム（EMB）; 巻 2008, 号 32(2008-EMB-008), p. 155-160, 発行日 2008-03-28
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会