STMシミュレータの開発

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2007-03-02
• タイトル: STMシミュレータの開発
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Development of STM Simulator
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 株式会社アプリオリ・マイクロシステムズ
• 著者所属: 独立行政法人産業技術総合研究所計算科学技術研究センター
• 著者所属: 早稲田大学大学院理工学研究科ナノ理工学専攻
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): STM (Scanning Tunneling Microscopy) is a kind of SPM (Scanning Probing Microscopy)
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): National Institute for Advanced Industrial Science and Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Waseda University
• 著者名: 佐々木, 徹; 長嶋, 雲兵; 塚田, 捷
• 著者名(英): Tohru, Sasaki; Umpei, Nagashima; Masaru, Tsukada
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: STM（走査型トンネル顕微鏡）はSPM（走査型プローブ顕微鏡）の一種であり、表面の電子状態を観測する強力な実験ツールである。しかし、その観測像を理解することが難しいことも多く、そのような場合にはシミュレーションによる理論解析が有効である。LCAO-DVXα法による第一原理電子状態計算とBardeenの摂動法を用いてトンネル電流の値を評価することにより、簡便に理論シミュレーションを実行することができる。本稿ではシミュレーション解析の一例としてポルフィリン分子とタングステン探針のSTM像に対するシミュレーション結果を紹介する。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: STM (Scanning Tunneling Microscopy) is a kind of SPM (Scanning Probing Microscopy). In the STM simulation, we can make STM simulation images with the first principle LCAO-DVXα and the tunnel current calculation based on Bardeen’s perturbation theory. We introduce the simulation result of Porphyrin-Tungsten system as a STM simulation example in this paper.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10463942
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告ハイパフォーマンスコンピューティング（HPC）; 巻 2007, 号 17(2007-HPC-109), p. 193-198, 発行日 2007-03-02
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会