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アイテム
コンパクトテスト法を用いたメモリの組込み検査法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/28538
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/28538b384a6f5-68a6-4e55-9dd6-d7487e9cae40
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SLDM81011004.pdf (1.2 MB)
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Copyright (c) 1981 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1981-12-15 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | コンパクトテスト法を用いたメモリの組込み検査法 | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 広島大学 総合科学部 | ||||||||
| 著者名 |
樹下行三
× 樹下行三
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| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 巻 1981, 号 38(1981-SLDM-011), p. 1-8, 発行日 1981-12-15 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
