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バス回路を含む順序回路のテストパターン自動生成について
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/28430
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/284306bd3e062-6d58-41b4-884c-6a173030fa16
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SLDM86033003.pdf (702.3 kB)
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Copyright (c) 1986 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1986-07-15 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | バス回路を含む順序回路のテストパターン自動生成について | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | Test Generation for Sequential Circuits with Busses and Tri - state Drivers (in japanese) | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 沖電気工業株式会社 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 沖電気工業株式会社 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 沖電気工業株式会社 | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 沖電気工業株式会社 | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Computer Aided Design Department, Oki Electric Industry, Ltd. | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Computer Aided Design Department, Oki Electric Industry, Ltd. | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Computer Aided Design Department, Oki Electric Industry, Ltd. | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| Computer Aided Design Department, Oki Electric Industry, Ltd. | ||||||||
| 著者名 |
佐藤, 敬
× 佐藤, 敬
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| 著者名(英) |
Takashi, Satoh
× Takashi, Satoh
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 近年、ディジタルPCBの高機能化、高密度化に伴ってトライステート素子や双方向バスを有するバス回路が増大し、機能試験用テストパターン作成は、増々難しくなってきている。今回、バス回路も取り扱い可能とするため、村上の9値法にバス回路のモデル化及び論理値として新たにハイインピーダンス状態を導入することにより バス回路を含む順序回路用テストパターン自動生成プログラムを開発し、その有効性を確認した。本報告では、バス回路を中心としたテストパターン自動生成の手法とその実行結果について報告する。 | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | It has become more difficult to create a function test pattern due to the recent increase of bus drivers containing tri-state drivers and bi-directional busses with advanced-functions and high density digital PCB. The test generation program for the sequential circuits including bus drivers has been developed by adopting bus drivers modelling and introducing a high impedance state as the logic value in the Murakami's nine-valued circuit model in order to enable bus drivers handling. The validity of this program has already been confirmed. The technique of test generation centers on bus drivers and the execution results are included in this report. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM） 巻 1986, 号 44(1986-SLDM-033), p. 1-6, 発行日 1986-07-15 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
