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アイテム
ハードウェアの機能テスト支援システムの考察
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/28405
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/284050dd75773-9b27-407d-9083-2f4fb836225b
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
Copyright (c) 1987 by the Information Processing Society of Japan
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オープンアクセス |
Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
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公開日 | 1987-02-17 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | ハードウェアの機能テスト支援システムの考察 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | FUNCTIONAL TEST DATA GENERATION FOR LOGIC DESIGN VERIFICATION | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
資源タイプ | technical report | |||||||
著者所属 | ||||||||
NTT電気通信研究所 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
NTT電気通信研究所 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
NTT Electrical Communication Laboratories | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
NTT Electrical Communication Laboratories | ||||||||
著者名 |
小林, 一夫
× 小林, 一夫
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著者名(英) |
Kazuo, Kobayashi
× Kazuo, Kobayashi
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論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 本論文では、ハードウェアの機能仕様を表わす記述から機能テストデータを自動生成するシステムの実現法とシステムの試用結果の考察を述べている。機能仕様はハードウェアへの入力データがどのような順序で加工されて出力されるかを規定する。これを形式的にかつ見通しよく記述可能とするため、ハードウェアの特長を考慮した専用の記述言語を開発した。機能テストデータの生成では、この記述をもとに入力データとそれに対して期待される出力データを対応付ける。このとき、規定以外の入力による出力も確認できるように生成手順を設定している。このシステムをいくつかのハードウェア仕様に適用した結果、人手設計に近いテストデータが生成でき、その量は記述量の2乗以下であることが確認できた。 | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | This paper presents a test design support system that can generate functional test data automatically from descriptions of hardware functional specifications. A functional specification provides information regarding how data input to the hardware are processed and which outputs they are sent to. To describe the specification formally, we have developed a new description language taking the characteristics of hardware functions in consideration. This system uses an algorithm that can generate two types of test data from the descriptions. Those test data can check the output expected not only from the specified input but also from an unspecified input. Some preliminary experiments show that this system can automatically generate almost the same amount of test data as can be produced manually, and that the test data require less than the second power of the number of descriptions. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
書誌情報 |
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術(SLDM) 巻 1987, 号 12(1986-SLDM-036), p. 1-8, 発行日 1987-02-17 |
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Notice | ||||||||
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |