ウェーハ集積回路の一配置手法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 1989-02-20
• タイトル: ウェーハ集積回路の一配置手法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Placement Algorithm for Wafer Scale Integration
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: （株）富士通研究所
• 著者所属: （株）富士通研究所
• 著者所属: （株）富士通研究所
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Fujitsu Laboratories Ltd. Atsugi
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Fujitsu Laboratories Ltd. Atsugi
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Fujitsu Laboratories Ltd. Atsugi
• 著者名: 金杉, 昭徳; 佐藤, 真司; 山下, 公一
• 著者名(英): Akinori, Kanasugi; Shinji, Sato; Koichi, Yamashita
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本手法は，あらかじめ1つの共通配置パタンを用意しておき，それをブロックの故障分布に適合するように当てはめる方法である。共通配置パタンは，使用するブロックが密集せず，かつ総配線長が短くなるように決定する。また，当てはめ方法は線型順序法を改良して用いる。FFTシステムに適用した結果，1000種類の故障分布に対する総配線長の平均値は共通配置の11％増と短く，良好な結果が得られた。また計算複雑度は，ウェーハ上の回路ブロック数をMとしたときO(M)で，高速である。適用対象は，同一の回路ブロックの繰り返しから構成されるアレイ状のシステムであり，多くのウェーハ集積回路に適用可能である。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: The algorithm presented in this paper stands on a common placement pattern and its fitting procedure to the actual failure map. The common placement pattern is determined under the condition that the distribution of used blocks is sparse and the total line length is minimum. Modified linear ordering is used for the fitting to the failure map. an example of FFT system shows that the average sum of total line length for one thousand random failure maps is larger than that of the common placement pattern by only 11%. The calculation time is in the order of O(M) (M: sum of blocks on the wafer). The algorithm is applicable to array systems which are configured by the repetition of the same block. Most WSI systems belong to this category.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 1989, 号 14(1988-SLDM-046), p. 25-30, 発行日 1989-02-20
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会