レイアウト・ベンチマークの現状と将来

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 1990-07-10
• タイトル: レイアウト・ベンチマークの現状と将来
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Current Status and Prospect on Layout Benchmarks
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: シャープ（株）コンピュータシステム研究所
• 著者所属: （株）日立製作所中央研究所
• 著者所属: 拓殖大学工学部情報工学科
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Computer Systems Laboratories, Sharp Corporation
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd.
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Information Engineering, Takushoku University
• 著者名: 山内, 貴行; 小川, 泰; 佐藤政生
• 著者名(英): Takayuki, Yamanouchi; Yasushi, Ogawa; Masao, Sato
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 電子回路設計では、なるべく良い設計を行うために、様々な手法が適用されている。これらの手法の善し悪しを評価するために、共通の基準となる回路を作成し、各手法による設計結果を比較検討する（ベンチマーク）活動がここ数年盛んになってきた。特に、米国においては、MCNC (croelectronics Center of North Caroli)が中心となり、ベンチマーク回路の収集、作成、配布、ワークショップの開催などを行っている。本稿では、5月に行われたレイアウトに関するMCNC国際ワークショップの報告、MCNCで現在配布しているベンチマーク回路の紹介、日本におけるベンチマーク活動状況の報告をレイアウトを中心に行う。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: One of benchmark goals is commn ground for evaluating CAD systems and algorithms. MCNC (Microelectronics Center of North Carolina) has been playing the central role in collecting, generating, and distributing benchmark circuits. Several international workshops on CAD have been held by MCNC. This year, its workshop on layout synthesis was held in May. This manuscript consists of three reports: report on the workshop, report on MCNC benchmark circuits, and report on where the benchmark of Japan is and where it is going.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 1990, 号 54(1990-SLDM-053), p. 1-8, 発行日 1990-07-10
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会