ジョセフソン論理回路のテストについて

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 1995-10-19
• タイトル: ジョセフソン論理回路のテストについて
• タイトル / 言語: en
• タイトル: On Testing of Josephson Logic Circuits
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 明治大学理工学部情報科学科
• 著者所属: 明治大学理工学部情報科学科
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Dept. of Computer Science, Meiji University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Dept. of Computer Science, Meiji University
• 著者名: 山田, 輝彦; 佐々木, 剛
• 著者名(英): Teruhiko, Yamada; Tsuyoshi, Sasaki
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 4JLジョセフソン論理ゲートに物理的欠陥が生じた場合の電気的振舞いを計算機シミュレーションによって解析し、次のことを明らかにした。(）論理テストでは、製造工程の不安定さや工程中に混入した不純物に起因する欠陥の半分も検出できない。(）電源の電流を観測することにより、高い欠陥検出率を達成することが可能である。(）電流テストはジョセフソン論理回路のテストに非常に有効であろう。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: We analyzed the electric manifestation of the 4JL (four Josephson junction logic) gates with a defect by computer simulation, and proved that: (1) Logic testing can detect less than half of the defects which are due to process instabilities and contaminations during the fabrication processes. (2) A high defect coverage is achievable by monitoring current drawn from power suppliers. (3) Current testing may be very effective for the testing of Josephson logic circuits.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 1995, 号 99(1995-SLDM-077), p. 25-29, 発行日 1995-10-19
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会