スタブを用いた電源安定化手法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2003-11-27
• タイトル: スタブを用いた電源安定化手法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Power Supply Noise Reduction using Stubs
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 東京大学大学院工学系研究科
• 著者所属: 東京大学大学院工学系研究科／東京大学大規模集積システム設計教育研究センター（VDEC）
• 著者所属: 東京大学大学院工学系研究科／東京大学大規模集積システム設計教育研究センター（VDEC）
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Dept. of Electronic Engineering, University of Tokyo
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Dept. of Electronic Engineering, University of Tokyo/VLSI Design and Education Center (VDEC), University of Tokyo
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Dept. of Electronic Engineering, University of Tokyo/VLSI Design and Education Center (VDEC), University of Tokyo
• 著者名: 名倉徹; 池田, 誠; 浅田, 邦博
• 著者名(英): Toru, Nakura; Makoto, Ikeda; Kunihiro, Asada
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: スタブをLSIの電源線に直接接続することによりdi/dt電源ノイズを削減することが可能であることを示す。HSPICEシミュレーションによると、1.8V、2.5GHz動作のテスト回路において、電源線にスタブを接続することにより、無付加。同一面積容量を接続した場合に比べてそれぞれ48％，26％の電源ノイズを削減することが示された。また、本手法は周波数が高くなるほど効果的に働き、将来の高速化LSIデバイスにおいて、さらに有効であることを示す。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: This paper describes a di/dt noise reduction method, which attaches stubs to the power line in LSI chips. A theoretical model of lossy transmission line stub is investigated, and simulation results show that the stub can reduce 48% and 26% of the noise compared with the nothing attached case, and de-coupling capacitor case, respectively, at a 2.5GHz 1.8V operation test circuit. It is also shown that this method will work more efficiently for further high frequency operation chips.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 2003, 号 120(2003-SLDM-112), p. 247-252, 発行日 2003-11-27
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会