WEKO3
アイテム
粒子追跡技術のハードウェア化の一手法-相関値計算部のハードウェア化-
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/27182
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/27182a92b2dc7-cb7a-43e4-a5a3-88c947b81ae3
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
![]() |
Copyright (c) 2005 by the Information Processing Society of Japan
|
|
オープンアクセス |
Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 2005-03-17 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | 粒子追跡技術のハードウェア化の一手法-相関値計算部のハードウェア化- | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | Hardware Acceleration for Particle Mask Correlation Method | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
資源タイプ | technical report | |||||||
著者所属 | ||||||||
近畿大学大学院 総合理工学研究科 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
近畿大学大学院 総合理工学研究科 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
近畿大学大学院 総合理工学研究科 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
近畿大学大学院 総合理工学研究科 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
近畿大学大学院 総合理工学研究科 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
System Design Methodology Laboratory, Kinki University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
System Design Methodology Laboratory, Kinki University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
System Design Methodology Laboratory, Kinki University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
System Design Methodology Laboratory, Kinki University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
System Design Methodology Laboratory, Kinki University | ||||||||
著者名 |
大口, 貴裕
× 大口, 貴裕
|
|||||||
著者名(英) |
Takahiro, OHGUCHI
× Takahiro, OHGUCHI
|
|||||||
論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 粒子追跡技術は、流れ場を空間的に連続して測定することを目的とし、様々な手法が提案されている。本論文では粒子マスク相関法(PMC法:Particle Mask Correlation Method)と、カルマンフィルタ(Kalman-filter)とx2検定(Chai-Square Test)を組み合わせたKC法を用い、ソフトゥエアとハードウェアで構成するシステムを設計し、処理の高速化、小規模化の実現について述べる。 | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | Various techniques are proposed so that the particle pursuit technology may measure the flowfield at continuously. In this paper, a software and hardware system is designed based on the KC method that combines the particle mask correlation method with the kalman filter and Chai-square Test, and the processing speed and the area of the system are evaluated. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AA11451459 | |||||||
書誌情報 |
情報処理学会研究報告システムLSI設計技術(SLDM) 巻 2005, 号 27(2004-SLDM-119), p. 85-90, 発行日 2005-03-17 |
|||||||
Notice | ||||||||
SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |