ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2008-11-10
• タイトル: ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: On Improving Transition Fault Coverage of Stuck-at Fault Tests Using Don't Care Identification Technique
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 日本大学大学院生産工学研究科
• 著者所属: 日本大学生産工学部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Industrial Technology, Nihon University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): College of Industrial Technology, Nihon University
• 著者名: 濱崎, 和光; 細川, 利典
• 著者名(英): Kazumitsu, Hamasaki; Toshinori, Hosokawa
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 近年 VLSI の大規模化，複雑化に伴い，縮退故障テスト以外に遷移故障やブリッジ故障に対するテストの要求が高まってきている．しかしながら，縮退故障以外の故障モデルを検出するために新たにテストパターンを追加すると，テストパターン数に比例してテストコストが増大する．本論文では，ドントケア抽出技術を用いて与えられた縮退故障テストパターンに対して，ドントケアを抽出し，できるだけ多数の遷移故障を検出するようにドントケアに対する値の再割り当て方法を提案する． ITC'99 ベンチマーク回路に対して本提案手法を適用した結果，テストパターン数を増加させることなく，遷移故障検出率を最大 27% 向上させることができた．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In recent year, transition fault testing and/or bridging fault testing for VLSIs are increasingly required in addition to stuck-at fault testing because the number of gates on VLSIs is rapidly increasing and their complexity is growing with advances in semiconductor technology. However, additional test patterns to detect fault models other than stuck-at fault cause the increase of testing cost. In this paper, we propose a method to generate a modified test set that not only guarantees to detect stuck-at faults but also detects as many as possible transition faults by applying don't care identification techniques to a given stuck-at test set. Therefore, there are no negative impacts on testing cost. Experimental results for ITC'99 benchmark circuits show that the modified test sets obtained by the proposed method detect more transition faults from 27% than the test sets initially generated for stuck-at faults.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告システムLSI設計技術（SLDM）; 巻 2008, 号 111(2008-SLDM-137), p. 1-6, 発行日 2008-11-10
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会