Item type |
SIG Technical Reports(1) |
公開日 |
2023-07-17 |
タイトル |
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タイトル |
ナノ人工物メトリクスの耐クローン性:干渉画像の空間周波数フィルタリング |
タイトル |
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言語 |
en |
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タイトル |
Clone Resistance of Artifact Metrics: Spatial Frequency Filtering |
言語 |
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言語 |
jpn |
キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
HWS |
資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh |
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資源タイプ |
technical report |
著者所属 |
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横浜国立大学 |
著者所属 |
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横浜国立大学 |
著者所属 |
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横浜国立大学 |
著者所属 |
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横浜国立大学 |
著者所属(英) |
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en |
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Yokohama National University |
著者所属(英) |
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en |
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Yokohama National University |
著者所属(英) |
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en |
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Yokohama National University |
著者所属(英) |
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en |
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Yokohama National University |
著者名 |
岩橋, 虎
宮本, 岩麒
吉田, 直樹
松本, 勉
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著者名(英) |
Akira, Iwahashi
Miyamoto, Iwaki
Naoki, Yoshida
Tsutomu, Matsumoto
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論文抄録 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
人工物メトリクスは,人工物に固有の特徴を用いて当該人工物を認証する技術である.製造者の技術的優位性をセキュリティの根拠としている従来の偽造防止技術とは異なり,製造者ですら複製困難な特徴を用いるため,クローンを作製することが極めて困難である「耐クローン性」を有することが期待できる.白色干渉計と相関係数を用いたシステムでは,干渉画像に空間周波数フィルタリングを施すことで,走査型プローブリソグラフィによって作製されたクローンを高精度に拒否できることが示されている.本稿では,干渉画像の空間周波数がシステムの耐クローン性にどのように影響を与えるかを解析し,採用すべき空間周波数フィルタリングのパラメータ選択につき考察する. |
論文抄録(英) |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Artifact metrics is a technology that uses features unique to an artifact to authenticate the artifact in question. Unlike conventional anti-counterfeiting technology, which relies on the technical superiority of the manufacturer as the basis for security, artifact metrics is expected to be ’clone-resistant’, as artifact uses features that is difficult to replicate, even for the manufacturer, therefore extremely difficult to clone. Systems based on white interferometry and correlation coefficients have been shown to be able to reject clones produced by scanning probe lithography with high accuracy by applying spatial frequency filtering to the interferogram. This paper analyses how the spatial frequency of the interferogram affects the clone resistance of the system and discusses the choice of spatial frequency filtering parameters to be employed. |
書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11235941 |
書誌情報 |
研究報告コンピュータセキュリティ(CSEC)
巻 2023-CSEC-102,
号 57,
p. 1-6,
発行日 2023-07-17
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ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
2188-8655 |
Notice |
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SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. |
出版者 |
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言語 |
ja |
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出版者 |
情報処理学会 |