Item type |
SIG Technical Reports(1) |
公開日 |
2023-01-16 |
タイトル |
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タイトル |
LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価 |
タイトル |
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言語 |
en |
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タイトル |
Measurement Results of Soft Error Tolerance of LPDDR4 SDRAM and GDDR5 SDRAM |
言語 |
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言語 |
jpn |
キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
回路設計技術 |
資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh |
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資源タイプ |
technical report |
著者所属 |
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京都工芸繊維大学 |
著者所属 |
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京都工芸繊維大学 |
著者所属 |
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京都大学 |
著者所属(英) |
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en |
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Kyoto Institute of Technology |
著者所属(英) |
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en |
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Kyoto Institute of Technology |
著者所属(英) |
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en |
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Kyoto University |
著者名 |
上林, 幹宜
小林, 和淑
橋本, 昌宜
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著者名(英) |
Motoki, Kamibayashi
Kazutoshi, Kobayashi
Masanori, Hashimoto
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論文抄録 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
近年,コンピュータシステムに搭載されるメモリの大容量化に伴い,信頼性の低下が問題になっている.信頼性低下の一因としてソフトエラーが挙げられる.本稿では二種類の 8Gb DRAM(Dynamic Random Access Memory)に中性子ビームを照射し,ソフトエラー耐性の実測評価を行った.LPDDR4 SDRAM は FPGA ボード上, GDDR5 SDRAM は GPU ボード上に搭載されているものを使用した.どちらの DRAM でも SER(Soft Error Rate)は約 3 FIT/Gb であった.検出されたエラーのうち,LPDDR4 ではすべてがバーストエラー,GDDR5 では 38% がバーストエラーであった. |
論文抄録(英) |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
In recent years, as the memory capacity of computer systems has increased, the reliability of the system has decreased. Soft errors are one of the main reasons for the decreased reliability. In this paper, two types of 8Gb DRAM (Dynamic Random Access Memory) were irradiated with neutron beams to evaluate their soft error tolerance. LPDDR4 SDRAM was used on an FPGA board and GDDR5 SDRAM was used on a GPU board. The results showed that the soft error rates for both DRAMs were around 3 FIT/Gb. In LPDDR4, all of the detected errors were burst errors, and in GDDR5, 38% of the detected errors were burst errors. |
書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11451459 |
書誌情報 |
研究報告システムとLSIの設計技術(SLDM)
巻 2023-SLDM-201,
号 13,
p. 1-6,
発行日 2023-01-16
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ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
2188-8639 |
Notice |
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SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. |
出版者 |
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言語 |
ja |
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出版者 |
情報処理学会 |