運用段階におけるソフトウェア信頼性評価法とその応用

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 1989-12-08
• タイトル: 運用段階におけるソフトウェア信頼性評価法とその応用
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Software Reliability Assessment Methods during Operation Phase and Their Application
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 広島大学工学部（第二類）
• 著者所属: 広島大学工学部（第二類）
• 著者所属: 広島大学工学部（第二類）
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Engineering, Hiroshima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Engineering, Hiroshima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Faculty of Engineering, Hiroshima University
• 著者名: 山田, 茂; 谷尾嘉一; 尾崎, 俊治
• 著者名(英): Shigeru, Yamada; Yoshikazu, Tanio; Shunji, Osaki
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本論文では，ソフトウェア開発の最終段階であるテスト工程とユーザに対するリリース後の運用段階とを関係づけて，ソフトウェア内の潜在エラーに起因するソフトウェア故障の発生現象を記述する．このとき，テスト工程におけるソフトウェアエラー発見事象を，非同次ボアソン過程に基づくソフトウェア信頼度成長モデルにより記述する．また，運用段階の信頼性すなわち運用信頼性の評価については，テスト終了時点におけるソフトウェア内の残存エラー数を考慮して，環境係数を導入する方法，ハザードレートによる方法，および累積故障率に基づく方法の3つについて議論する．最後に，ソフトウェアの信頼性データ解析の結果を用いて，運用信頼性に関する評価法の数値例を示す．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: This paper discusses several methods of software reliability assessment, in which the software failure occurrence phenomenon during testing and operation phases are described by stochastic models. The failure occurrence (or software error detection) phenomenon during testing phase is formulated by software reliability growth models based on a nonhomogeneous Poisson process. The failure occurrence phenomenon during operation phase is formulated by three methods dependent on the number of remaining software errors at the initial time point of operational use : Environment factor, hazard rate, and cumulative failure rate. Then, we can obtain several operational software reliability measures. Finally, numerical examples of software reliability assessment during operation phase are presented for illustration.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10112981
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告ソフトウェア工学（SE）; 巻 1989, 号 106(1989-SE-070), p. 1-8, 発行日 1989-12-08
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会