再試験を可能とするソフトウェア自動試験環境

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 1994-01-20
• タイトル: 再試験を可能とするソフトウェア自動試験環境
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Automatic Testing Environment for Retesting
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: NTT交換システム研究所
• 著者所属: NTT交換システム研究所
• 著者所属: NTT交換システム研究所
• 著者所属: NTT交換システム研究所
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): NTT Communication Switching Laboratories
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): NTT Communication Switching Laboratories
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): NTT Communication Switching Laboratories
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): NTT Communication Switching Laboratories
• 著者名: 金子, 斉; 立元慎也; 白石, 智; 黒田, 憲一
• 著者名(英): Hitoshi, Kaneko; Shinya, Tachimoto; Satoshi, Shiraishi; Ken-Ichi, Kuroda
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本稿では、まず、試験プロセスを形式的に記述し、これを自動的に解釈/実行することによる効果を示し、その実現環境について述べている。ついで、既に記述された試験シナリオを、デグレードチェック時などに異なる試験条件下で再実行する『試験シナリオの再利用』に着目し、これを実現するための試験シナリオの記述法および自動試験システムの構成法について述べている。さらに、再試験時に必要な試験シナリオを検索するデータベースの構成を提案している。
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: This paper proposes methodologies for constructing an automatic testing environment for retesting. First, the effect of formally describing the testing process as a testing scenario and automatically interpreting it. Then, the methodologies for describing the testing scenario and constructing the environment for realizing scenario reusing, which is efficient for retesting, e.g. degrade-check. Furthermore, we propose structure of a data-base which searches testing scenarios for retesting.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN10112981
• 書誌情報: 情報処理学会研究報告ソフトウェア工学（SE）; 巻 1994, 号 6(1993-SE-096), p. 115-122, 発行日 1994-01-20
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会