WEKO3
アイテム
組込み制御用ソフトウェア次世代テスト・デバッグシステム
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/21642
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/216427c0a8849-a4fb-451b-9b51-07dbc14ad3b3
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-SE98122019.pdf (745.4 kB)
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Copyright (c) 1999 by the Information Processing Society of Japan
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| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1999-03-18 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 組込み制御用ソフトウェア次世代テスト・デバッグシステム | |||||||
| タイトル | ||||||||
| 言語 | en | |||||||
| タイトル | The testing and debugging system for embedded systems using concurrent programs | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 株式会社東芝研究開発センター | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 株式会社東芝研究開発センター | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 株式会社東芝研究開発センター | ||||||||
| 著者所属 | ||||||||
| 株式会社東芝研究開発センター | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| TOSHIBA Corporation Research and Development Center | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| TOSHIBA Corporation Research and Development Center | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| TOSHIBA Corporation Research and Development Center | ||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||
| en | ||||||||
| TOSHIBA Corporation Research and Development Center | ||||||||
| 著者名 |
岡本, 渉
× 岡本, 渉
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| 著者名(英) |
Wataru, Okamoto
× Wataru, Okamoto
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| 論文抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 組み込み制御用ソフトウェアは通常、並行プログラムとして記述される。並行プログラムに対するテスト・デバッグの難しさは、ある操作に対して一度テストを行って、不具合が発生しなかったからといって、その操作の正当性が保証されないという点にある。また不具合の原因究明においても不具合が再現されにくいという点が大きな問題である。本稿ではこのような「再現性のない不具合」と呼ばれる並行プログラム特有の問題点を解決するために開発された、Javaを対象としたテスト・デバッグ支援システムの概要、及びその背景にある技術について述べる。 | |||||||
| 論文抄録(英) | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | Control software for embedded systems is usually written as a concurrent program. Concurrent programs are non-deterministic, and testing and debugging for them is generally more difficult than for sequential programs. This non-deterministic behavior causes a big problem, in that the defects don't always appear in testing or debugging even if the concurrent programs contain them. Therefore it is very difficult to reproduce such defects in debugging process and it takes a long time to detect the defects. To resolve this problem, we have developed a system for testing and debugging Java concurrent programs. In this paper, we present the outline and technical aspects of this system. | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AN10112981 | |||||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告ソフトウェア工学（SE） 巻 1999, 号 28(1998-SE-122), p. 141-148, 発行日 1999-03-18 |
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| Notice | ||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||
| 出版者 | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||
