WEKO3
アイテム
カラーイラストからの微分可能評価指標を用いた線画抽出
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/207496
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/2074961016455a-7616-4f09-9ac7-627428f1d8a0
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
IPSJ-CVIM20223003.pdf (10.0 MB)
|
Copyright (c) 2020 by the Information Processing Society of Japan
|
|
| オープンアクセス | ||
| Item type | SIG Technical Reports(1) | |||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2020-10-29 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | カラーイラストからの微分可能評価指標を用いた線画抽出 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| タイトル | Line Extraction from Color Illustrations with Differentiable Metrics | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||
| キーワード | ||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||
| 主題 | セッション1 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||||||||
| 資源タイプ | technical report | |||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 筑波大学 | ||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 筑波大学 | ||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 筑波大学 | ||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||
| en | ||||||||||||
| University of Tsukuba | ||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||
| en | ||||||||||||
| University of Tsukuba | ||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||
| en | ||||||||||||
| University of Tsukuba | ||||||||||||
| 著者名 |
金森, 由博
× 金森, 由博
× 松田, 祐紫
× 遠藤, 結城
|
|||||||||||
| 論文抄録 | ||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||
| 内容記述 | カラーイラストの線画は一般に濃淡を持つ線で描かれており，この線を抽出できればアーティストの筆致の解析などに有益である．しかし我々の知る限りでは，線画の濃淡まで考慮して線画抽出を行う既存手法はない．本研究では，グレースケール線画のための微分可能な適合率，再現率，F 値などの評価指標を定義し，これらから損失関数を導出して，畳み込みニューラルネットワークに基づく教師あり学習を行う．実験により，従来の二値画像向けの損失関数と比べて精度が向上することを確認した．さらに注意機構を導入し，誤って黒くあるいは白く出力された画素を補正できるようにすることで，線画抽出の精度向上を図る． | |||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||
| 収録物識別子 | AA11131797 | |||||||||||
| 書誌情報 |
研究報告コンピュータビジョンとイメージメディア（CVIM） 巻 2020-CVIM-223, 号 3, p. 1-6, 発行日 2020-10-29 |
|||||||||||
| ISSN | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 2188-8701 | |||||||||||
| Notice | ||||||||||||
| SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. | ||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||||
