確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2019-11-06
• タイトル: 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Analysis of Fault Detection Degradation Issue in Multi-cycle Test Scheme using Probabilistic Evaluation Method
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 愛媛大学理工学研究科
• 著者所属: 愛媛大学理工学研究科
• 著者所属: 愛媛大学理工学研究科
• 著者所属: 愛媛大学理工学研究科
• 著者所属: 愛媛大学理工学研究科
• 著者所属: 愛媛大学理工学研究科
• 著者所属: ルネサスエレクトロニクス株式会社
• 著者所属: ルネサスエレクトロニクス株式会社
• 著者所属: ルネサスエレクトロニクス株式会社
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Ehime University,;Ehime University,;Ehime University,;Ehime University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Ehime University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Ehime University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Renesas Electronics Corporation
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Renesas Electronics Corporation
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Renesas Electronics Corporation
• 著者名: 中岡, 典弘; 青野, 智己; 工藤, 壮司; 王, 森レイ; 樋上, 喜信; 高橋, 寛; 岩田, 浩幸; 前田, 洋一; 松嶋, 潤
• 著者名(英): Norihiro, Nakaoika; Tomoki, Aono; Sohshi, Kudoh; Senling, Wang; Yoshinobu, Higami; Hiroshi, Takahashi; Hiroyuki, Iwata; Yoichi, Maeda; Jun, Matsushima
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 先進自動運転システムの機能安全を保障するために，システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST) 機構を用いて,デバイスの故障の有無を診断するパワーオンセルフテスト (POST) が必要である．POST は厳しいテスト実行時間制約の下で定められた縮退故障検出率を得なければならない．マルチサイクルテストは LBIST を用いた POST の実行時間の短縮化に有効な手法の 1 つである．しかしながら，マルチサイクルテストでは，キャプチャサイクルを増やすことに伴い，キャプチャパターンが新たな縮退故障を検出することが困難となる故障検出能力低下問題が観測された．故障検出能力低下問題の原因について，これまでの研究では論理 ・故障シミュレーションを行うことでマルチサイクルテストにおいてサイクル数が増えると多くのフリップフロップ (FF) の値が固定値になることが分かったが，それと故障検出との関係は未だに明らかにされていない．本稿では，COP という確率ベーステスタビリティ評価尺度と既存の故障検出確率評価法を利用して，マルチサイクルテストスキームにおけるキャプチャパターン系列の固定値になる確率と故障の検出確率を評価することにより，故障検出能力低下問題のメカニズムを解析する．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In order to ensure the functional safety of advanced autonomous driving systems, a power-on self-test (POST) is required to diagnose the presence or absence of a device fault by using a logical built-in self-test (LBIST) mechanism at system startup. We must obtain a fault detection rate defined under strict test execution time constraints. Multi-cycle testing is one of the effective methods for shortening POST execution time using LBIST. However, in the multi-cycle test, there was a fault detection degradation problem that made it difficult for the capture pattern to detect a new stuck-at fault as the number of capture cycles increased. Regarding the cause of the fault detection degradation problem, it has been found that many flip-flops (FF) values become fixed as the number of cycles increases in multi-cycle tests by performing logic / fault simulations. The relationship between such a problem and fault detection has not yet been clarified. In this paper, we analyze the mechanism of the fault detection degradation problem by evaluating the transition probability and fault detection probability of the capture pattern sequence in the multi-cycle test scheme using a probability-based testability evaluation scale called COP.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM）; 巻 2019-SLDM-189, 号 28, p. 1-6, 発行日 2019-11-06
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8639
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会