単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2019-11-06
• タイトル: 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル
• タイトル / 言語: en
• タイトル: NBTI Model Replicating AC Stress / Recovery from a Single-shot Long-term DC Measurement
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 埼玉大学大学院理工学研究科
• 著者所属: 福岡大学工学部
• 著者所属: 東京理科大学理工学部
• 著者所属: 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
• 著者所属: 京都工芸繊維大学電気電子工学系
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Saitama Univ.
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Fukuoka Univ.
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Tokyo Univ. of Science
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): The Univ. of Tokyo
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Kyoto Institute of Tech.
• 著者名: 保坂, 巧; 西澤, 真一; 岸田, 亮; 松本, 高士; 小林, 和淑
• 著者名(英): T., Hosaka; S., Nishizawa; R., Kishida; T., Matsumoto; K., Kobayashi
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性 (NBTI) モデルを提案する．提案モデルは反応拡散 (tn) およびホールトラッピング (log(t)) モデルに基づいている．単発長期の DC ストレス/リカバリ測定から得られたデータを利用し，DCストレス/リカバリだけでなく AC ストレス/リカバリを表現可能なモデルパラメータを抽出する．モデルパラメータ抽出に優先順位をつけることで，デューティ比の異なる AC ストレス/リカバリ特性を表現可能であることを示す．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: In this paper, simple and compact Negative Bias Temperature Instabilily (NBTI) model is proposed. The model is based on the reaction-difiusion (tn) and hole-trapping (log(t)) theories. Data with a single shot of DC stress and recovery are utilized to extract model parameters. Our key idea is setting the priority in the model fitting process to be possible for replicating AC dependency of NBTI stress and recovery effect. The proposed model successfully replicates stress and recovery with various duty cycles.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA11451459
• 書誌情報: 研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM）; 巻 2019-SLDM-189, 号 12, p. 1-6, 発行日 2019-11-06
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-8639
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会