IDDT出現時間に基づく検査法の断線故障検出能力向上のための設計

• Item type: SIG Technical Reports(1)
• 公開日: 2017-10-30
• タイトル: IDDT出現時間に基づく検査法の断線故障検出能力向上のための設計
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Design to Improve Open Defect Detection for Test Based on IDDT Appearance Time
• 言語: jpn
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh
• 資源タイプ: technical report
• 著者所属: 徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース
• 著者所属: 徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース
• 著者所属: 徳島大学大学院社会産業理工学研究部
• 著者所属: 徳島大学大学院社会産業理工学研究部
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Advanced Technology and Science, Tokushima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Advanced Technology and Science, Tokushima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Science and Technology, Industrial and Social Sciences Tokushima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Science and Technology, Industrial and Social Sciences Tokushima University
• 著者名: 神原, 東風; 大谷, 航平; 四柳, 浩之; 橋爪, 正樹
• 著者名(英): Ayumu, Kambara; Kouhei, Ohtani; Hiroyuki, Yotsuyanagi; Masaki, Hashizume
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: IC 内に発生する断線故障の増加が問題となっている．これまでに我々は CMOS 論理回路内の信号線における断線故障を検出するための組込みセンサを用いる電源電流検査法を提案した．この検査法はテスト入力ベクトルを検査対象デバイスに印加した際に流れる動的電源電流の出現時間に基づいている．本稿では検査時に故障回路と正常回路の動的電源電流出現時間の差異を拡大するための検査法の改良を提案する．また，改良した組込みセンサを用いることで断線故障の検出が容易になることを SPICE シミュレーションを用いる実験により示す．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: Increasing open defects has become a problem. We proposed a supply current test method with a built-in sensor for detecting open defects on signal lines in CMOS logic circuits. The test method is based on an appearance time of dynamic supply current that flows when a test input vector is provided to a device under test. We propose the improved test method to make the difference of IDDT appearance time greater. In addition, SPICE simulation results show that open defects are detected by the improved sensor.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AA12149313
• 書誌情報: 研究報告組込みシステム（EMB）; 巻 2017-EMB-46, 号 24, p. 1-6, 発行日 2017-10-30
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 2188-868X
• Notice: SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc.
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会