電流スターブ型発振器を用いた周波数変動のしきい値電圧変換手法

• Item type: Symposium(1)
• 公開日: 2017-08-23
• タイトル: 電流スターブ型発振器を用いた周波数変動のしきい値電圧変換手法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: Threshold Voltage Conversion Method of Frequency Fluctuations Using Current Starved Ring Oscillators
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 信頼性・ばらつき
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
• 資源タイプ: conference paper
• 著者所属: 京都工芸繊維大学電子システム工学専攻
• 著者所属: 京都工芸繊維大学電子システム工学専攻
• 著者所属: 京都工芸繊維大学電子システム工学専攻
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Electronics, Kyoto Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Electronics, Kyoto Institute of Technology
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Electronics, Kyoto Institute of Technology
• 著者名: 岸田, 亮; 古田, 潤; 小林, 和淑
• 著者名(英): Ryo, Kishida; Jun, Furuta; Kazutoshi, Kobayashi
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 集積回路素子の微細化により，経年劣化などによる寿命予測が困難になっている．本論文では電流スターブ型発振器により，周波数変動をしきい値電圧変動に変換する手法を提案する．電流スターブ型発振器は電源線と，発振器の仮想電源線との間に被測定トランジスタが挿入された構造である．発振器をインバータではなく，NOR にすることで，従来の問題であった発振器で起こる経年劣化を抑制し，被測定トランジスタのみの影響を観測することができる．測定した周波数をしきい値電圧に変換して外挿した結果，10 年後の劣化率は指数関数と対数関数で見積もりに差があり，PMOS で 6 倍，NMOS で 3 倍異なった見積もりとなる．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: It has been difficult to predict lifetime of integrated circuits with the miniaturization of electronic devices. In this paper, Threshold voltage (Vth) conversion method of frequency fluctuations are proposed using current starved ring oscillators (ROs). Measured transistors are inserted between supply voltage line (VDD) and virtual VDD in the ROs. ROs are not composed by inverters but NORs to suppress aging degradation in ROs and only effects of measured transistors are observed. Measured frequencies are converted to Vth and extrapolated. Estimations of Vth degradations are different between exponential and logarithm functions. Exponential estimation is six and three times larger than logarithm in PMOS and NMOS respectively in ten years.
• 書誌情報: DAシンポジウム2017論文集; 巻 2017, p. 198-203, 発行日 2017-08-23
• 出版者 / 言語: ja
• 出版者: 情報処理学会