Item type |
SIG Technical Reports(1) |
公開日 |
2017-07-19 |
タイトル |
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タイトル |
デジタル温度電圧センサにおける温度2点補正手法の検討 |
タイトル |
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言語 |
en |
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タイトル |
A Two-Temperature-Point Calibration Method for A Digital Temperature And Voltage Sensor |
言語 |
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言語 |
jpn |
キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
電源・冷却 |
資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh |
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資源タイプ |
technical report |
著者所属 |
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九州工業大学 |
著者所属 |
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九州工業大学 |
著者所属 |
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九州工業大学 |
著者所属(英) |
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en |
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Kyushu Institute of Technology, |
著者所属(英) |
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en |
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Kyushu Institute of Technology, |
著者所属(英) |
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en |
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Kyushu Institute of Technology, |
著者名 |
三宅, 庸資
佐藤, 康夫
梶原, 誠司
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著者名(英) |
Yousuke, Miyake
Yasuo, Sato
Seiji, Kajihara
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論文抄録 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
VLSI 稼働時のチップの温度と電圧を測定するため,リングオシレータ (RO : Rmg Oscillator) を利用したデジタルセンサが提案されている.デジタルセンサの測定精度は,一般に製造バラツキが影響するが,それを低減する手法として,初回に特定の温度 ・ 電圧の測定条件 1 点における測定値を補正に利用するキャリブレーション手法が有力である.微細テクノロジでは,トランジスタにおける閾値電圧の温度依存性の影響が顕在化して,RO 周波数の温度依存性や電圧依存性の傾向が逆転する場合もあるため,1 点の測定値による補正では微細テクノロジ特有の RO 特性や製造バラツキの影響による特性変動に十分に対応することができない.本論文では,異なる温度 2 点の測定条件に対する測定値を利用したキヤリブレーション手法について考察し,測定精度等の評価を行う.また,本手法に用いる温度 2 点の測定点の選択方法が測定精度に与える影響を評価し,補正に用いる 2 点の適切な選択方法について検討する. |
論文抄録(英) |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
A measurement method of a digital sensor using ring oscillators to measure a temperature and a voltage of a VLSI was proposed. In order to reduce the influence of process variations on measurement accuracy, a calibration method that uses an initial measurement value of each sensor was adopted. However, as the CMOS technology grows, the influence for threshold voltage of a transistor increases, and a temperature dependence and a voltage dependence of the RO frequency may be reversed. Therefore, the conventional calibration method cannot well correspond with the RO characteristics and the influence of manufacturing variations in the ultra-fine CMOS technology. Then, this paper discusses a calibration method using two measurement values, and evaluates its effectiveness using SPICE simulation in 45 nm CMOS technology. In addition, the paper discusses an appropriate selection method of two values for the method, by evaluating an influence of the method on accuracy. |
書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AN10096105 |
書誌情報 |
研究報告システム・アーキテクチャ(ARC)
巻 2017-ARC-227,
号 11,
p. 1-6,
発行日 2017-07-19
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ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
2188-8574 |
Notice |
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SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. |
出版者 |
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言語 |
ja |
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出版者 |
情報処理学会 |