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アイテム
3次元反射モデルの解析と推定
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/18138
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/181387fb37b50-f870-4e2b-b8a8-433a16ee529f
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
Copyright (c) 2000 by the Information Processing Society of Japan
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オープンアクセス |
Item type | Trans(1) | |||||||
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公開日 | 2000-12-15 | |||||||
タイトル | ||||||||
タイトル | 3次元反射モデルの解析と推定 | |||||||
タイトル | ||||||||
言語 | en | |||||||
タイトル | Analysis and Estimation of a Three - Dimensional Reflection Model | |||||||
言語 | ||||||||
言語 | jpn | |||||||
キーワード | ||||||||
主題Scheme | Other | |||||||
主題 | 研究論文 | |||||||
資源タイプ | ||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||
資源タイプ | journal article | |||||||
著者所属 | ||||||||
大阪電気通信大学総合情報学部情報工学科 | ||||||||
著者所属 | ||||||||
大阪電気通信大学総合情報学部情報工学科 | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Department of Engineering Informatics, Faculty of Information and Computer Sciences, Osaka Electro - Communication University | ||||||||
著者所属(英) | ||||||||
en | ||||||||
Department of Engineering Informatics, Faculty of Information and Computer Sciences, Osaka Electro - Communication University | ||||||||
著者名 |
田中, 法博
× 田中, 法博
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著者名(英) |
Norihiro, Tanaka
× Norihiro, Tanaka
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論文抄録 | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | 3次元光反射モデルを解析して,モデルパラメータを推定する手法を述べる.物体表面の材質は非金属の不均質誘電体を仮定し,3次元反射モデルとしてはTorrance-Sparrowモデルを採用する.まず,モデルの妥当性を実験的に調べる.このために三次元変角光度計による反射率データにTorrance-Sparrowモデルを適合させ,最良な適合に必要な成分項とモデルパラメータを決定する.この結果,Torrance-SparrowモデルはPhongモデルよりも鏡面反射の部分で実測値への適合がかなり優れ,またフレネル反射率の項も無視できないことが分かる.さらにTorrance-Sparrowモデルを使って物体の屈折率が推定できることを示す.次に,CCDカメラによるカラー画像からTorrance-Sparrowモデルを推定する方法を提案する.較正した撮影系から得られた対象物体のカラー画像1枚からパラメータを推定する.物体色や光源色に関する色成分パラメータはカラーヒストグラムの解析から求めることができる.表面粗さパラメータの推定のために,鏡面ピークの近傍の輝度画像と反射率分布図を用いるアルゴリズムを提示する.最後に,推定したパラメータでCG画像を生成して総合的な妥当性を視覚的に確認する. | |||||||
論文抄録(英) | ||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||
内容記述 | A method is described for analyzing a three-dimensional reflection model and estimating the model parameters. An object surface is assumed to be composed of non-conducting materials called inhomogeneous dielectric materials, and the Torrance-Sparrow model is used as the three-dimensional reflection model. First, we examine the validity of the model. The model is fitted to the reflectance data measured by a gonio-photo meter. We determine the components and parameters needed for the best fitting. It is shown that the Torrance-Sparrow model is much better than the Phong model in fitting at the specular reflection, and the Fresnel reflectance term can not be neglected. The index of refraction of an object can also be estimated using the model. Next, we propose algorithms for estimating the Torrance-Sparrow model from a color image by a CCD camera. The model parameters are estimated using a color image acquired by a calibrated imaging system. Color parameters are then determined on the color histogram analysis. Moreover to estimate the surface roughness parameter, we present an algorithm using a reflectance map and a brightness image for the specular reflection. Finally, CG images are generated with the estimated parameters in order to visually confirm the feasibility of the proposed method. | |||||||
書誌レコードID | ||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
収録物識別子 | AA11560603 | |||||||
書誌情報 |
情報処理学会論文誌コンピュータビジョンとイメージメディア(CVIM) 巻 41, 号 SIG10(CVIM1), p. 1-11, 発行日 2000-12-15 |
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ISSN | ||||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||
収録物識別子 | 1882-7810 | |||||||
出版者 | ||||||||
言語 | ja | |||||||
出版者 | 情報処理学会 |