| Item type |
SIG Technical Reports(1) |
| 公開日 |
2017-05-03 |
| タイトル |
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タイトル |
トレースバッファを使用した電気的バグの発生箇所絞り込み手法 |
| タイトル |
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言語 |
en |
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タイトル |
A Method on Narrowing Down Candidates of Electrical Bugs Using Trace Buffers |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
LSI設計一般 |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh |
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資源タイプ |
technical report |
| 著者所属 |
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東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 |
| 著者所属 |
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東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻 |
| 著者所属 |
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東京大学大規模集積システム設計教育研究センター |
| 著者所属(英) |
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en |
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Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
| 著者所属(英) |
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en |
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Department of Electrical Engineering and Information Systems, Graduate School of Engineering, The University of Tokyo |
| 著者所属(英) |
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en |
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VLSI Design and Education Center, The University of Tokyo |
| 著者名 |
岩田, 健太郎
ガラバギ, アミル マスード
藤田, 昌宏
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| 著者名(英) |
Kentaro, Iwata
Gharehbaghi, Amir Masoud
Masahiro, Fujita
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| 論文抄録 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
オンチップメモリの一種のトレースバッファで一定期間，値を記録するフリップフロップを適切に選択することで，電気的な要因で生じるエラーが起きたと推定される箇所を絞り込む手法について，従来手法と新手法の比較結果を示す．評価は，トレースされた値を回路に当てはめた後，サイクルとフリップフロップの両面から網羅的に発生したエラーの候補となるかどうかを順次調べることで行った． |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11451459 |
| 書誌情報 |
研究報告システムとLSIの設計技術（SLDM）
巻 2017-SLDM-180,
号 2,
p. 1-6,
発行日 2017-05-03
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| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
2188-8639 |
| Notice |
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SIG Technical Reports are nonrefereed and hence may later appear in any journals, conferences, symposia, etc. |
| 出版者 |
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言語 |
ja |
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出版者 |
情報処理学会 |
IPSJ-SLDM17180002.pdf (1.3 MB)
