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アイテム
C-023 故障挿入によるTMRプロセッサの耐縮退故障性評価(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ)
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/156970
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/156970dad41e1a-9f56-484b-996b-a4d82a8958df
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00006542373.pdf (165.0 kB)
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Copyright (c) 2007 by IEICE,IPSJ
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| Item type | FIT(1) | |||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2007-08-22 | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| タイトル | C-023 故障挿入によるTMRプロセッサの耐縮退故障性評価(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ) | |||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||
| タイトル | C-023 Evluation of Stuck-at Fault Tolerance of TMR Processor by Using Fault Injections | |||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 首都大学東京大学院システムデザイン研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 首都大学東京大学院システムデザイン研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 首都大学東京大学院システムデザイン研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||||
| 首都大学東京大学院システムデザイン研究科 | ||||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||||
| en | ||||||||||||||
| Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University | ||||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||||
| en | ||||||||||||||
| Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University | ||||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||||
| en | ||||||||||||||
| Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University | ||||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||||
| en | ||||||||||||||
| Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University | ||||||||||||||
| 著者名 |
丸本, 耕平
× 丸本, 耕平
× 新井, 雅之
× 福本, 聡
× 岩崎, 一彦
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| 著者名(英) |
Marumoto, Kohei
× Marumoto, Kohei
× Arai, Masayuki
× Fukumoto, Satoshi
× Iwasaki, Kazuhiko
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| 書誌レコードID | ||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11740605 | |||||||||||||
| 書誌情報 |
情報科学技術フォーラム一般講演論文集 巻 6, 号 1, p. 225-226, 発行日 2007-08-22 |
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| 出版者 | ||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||||||
