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  1. FIT
  2. 2013
  3. 情報科学技術フォーラム講演論文集
  4. 12
  5. 1

C-008 NAND FMにおけるデータ保持能力の短期推定手法(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文)

https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/152045
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/152045
becc0c03-04e4-498d-966a-b4693746b18b
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00009336328.pdf KJ00009336328.pdf (721.4 kB)
Copyright (c) 2013 by IEICE,IPSJ
Item type FIT(1)
公開日 2013-08-20
タイトル
タイトル C-008 NAND FMにおけるデータ保持能力の短期推定手法(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文)
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
資源タイプ conference paper
著者所属
(株)日立製作所
著者所属
(株)日立製作所
著者所属(英)
en
Hitachi Ltd
著者所属(英)
en
Hitachi Ltd
著者名 鈴木, 彬史

× 鈴木, 彬史

鈴木, 彬史

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小川, 純司

× 小川, 純司

小川, 純司

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著者名(英) Suzuki, Akifumi

× Suzuki, Akifumi

en Suzuki, Akifumi

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Ogawa, Junji

× Ogawa, Junji

en Ogawa, Junji

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論文抄録
内容記述タイプ Other
内容記述 NAND Flash Memory(以下FM)のデータ保持能力は,メモリセルの書き換え回数と書き換え間隔に依存して低下する.このため,データ保持能力の調査は,実利用条件の書き換え間隔を模擬する必要があり,この劣化試験は年単位の期間が必要となる.しかし,FMを早期に製品適用するには,FM劣化後のデータ保持能力に基づいて必要な訂正回路の規模やデータ保護制御を定め,短期間で劣化の影響を定量化する必要がある.本研究は,(1)書き換え間隔,(2)データ保持期間,(3)品質ばらつき,の条件から障害bit率を予測するモデルを述べる.このモデルにより,短期実験の結果より実利用条件下でのFMのデータ損失確率が推定可能となる.
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA1242354X
書誌情報 情報科学技術フォーラム講演論文集

巻 12, 号 1, p. 335-336, 発行日 2013-08-20
出版者
言語 ja
出版者 情報処理学会
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Ver.1 2025-01-20 15:39:01.747808
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