WEKO3
-
RootNode
アイテム
C-008 NAND FMにおけるデータ保持能力の短期推定手法(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文)
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/152045
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/152045becc0c03-04e4-498d-966a-b4693746b18b
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
![]() |
Copyright (c) 2013 by IEICE,IPSJ
|
Item type | FIT(1) | |||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 2013-08-20 | |||||||||
タイトル | ||||||||||
タイトル | C-008 NAND FMにおけるデータ保持能力の短期推定手法(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文) | |||||||||
言語 | ||||||||||
言語 | jpn | |||||||||
資源タイプ | ||||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||
資源タイプ | conference paper | |||||||||
著者所属 | ||||||||||
(株)日立製作所 | ||||||||||
著者所属 | ||||||||||
(株)日立製作所 | ||||||||||
著者所属(英) | ||||||||||
en | ||||||||||
Hitachi Ltd | ||||||||||
著者所属(英) | ||||||||||
en | ||||||||||
Hitachi Ltd | ||||||||||
著者名 |
鈴木, 彬史
× 鈴木, 彬史
× 小川, 純司
|
|||||||||
著者名(英) |
Suzuki, Akifumi
× Suzuki, Akifumi
× Ogawa, Junji
|
|||||||||
論文抄録 | ||||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||||
内容記述 | NAND Flash Memory(以下FM)のデータ保持能力は,メモリセルの書き換え回数と書き換え間隔に依存して低下する.このため,データ保持能力の調査は,実利用条件の書き換え間隔を模擬する必要があり,この劣化試験は年単位の期間が必要となる.しかし,FMを早期に製品適用するには,FM劣化後のデータ保持能力に基づいて必要な訂正回路の規模やデータ保護制御を定め,短期間で劣化の影響を定量化する必要がある.本研究は,(1)書き換え間隔,(2)データ保持期間,(3)品質ばらつき,の条件から障害bit率を予測するモデルを述べる.このモデルにより,短期実験の結果より実利用条件下でのFMのデータ損失確率が推定可能となる. | |||||||||
書誌レコードID | ||||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||
収録物識別子 | AA1242354X | |||||||||
書誌情報 |
情報科学技術フォーラム講演論文集 巻 12, 号 1, p. 335-336, 発行日 2013-08-20 |
|||||||||
出版者 | ||||||||||
言語 | ja | |||||||||
出版者 | 情報処理学会 |