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アイテム
L-020 線形複雑度のプロファイルを用いた乱数検定に関する一考察(暗号・認証プロトコル,L分野:ネットワーク・セキュリティ)
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/151223
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/1512234b3ea777-c104-405b-8842-4e039821589a
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00008737149.pdf (183.8 kB)
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Copyright (c) 2011 by IEICE,IPSJ
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| Item type | FIT(1) | |||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2011-09-07 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | L-020 線形複雑度のプロファイルを用いた乱数検定に関する一考察(暗号・認証プロトコル,L分野:ネットワーク・セキュリティ) | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||
| タイトル | L-020 A Study on Randomness Test Using Linear Complexity Profile | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 東京理科大学大学院工学研究科電気工学専攻 | ||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 東京理科大学大学院理工学研究科電気工学専攻 | ||||||||||||
| 著者所属 | ||||||||||||
| 東京理科大学大学院工学研究科電気工学専攻 | ||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||
| en | ||||||||||||
| Department of Electrical Engineering, Faculty of Engineering, Tokyo University of Science | ||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||
| en | ||||||||||||
| Department of Electrical Engineering, Faculty of Science and Technology, Tokyo University of Science | ||||||||||||
| 著者所属(英) | ||||||||||||
| en | ||||||||||||
| Department of Electrical Engineering, Faculty of Engineering, Tokyo University of Science | ||||||||||||
| 著者名 |
芝山, 直喜
× 芝山, 直喜
× 金子, 敏信
× 半谷, 精一郎
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| 著者名(英) |
Shibayama, Naoki
× Shibayama, Naoki
× Kaneko, Toshinobu
× Hangai, Seiichiro
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| 書誌レコードID | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||
| 収録物識別子 | AA1242354X | |||||||||||
| 書誌情報 |
情報科学技術フォーラム講演論文集 巻 10, 号 4, p. 217-220, 発行日 2011-09-07 |
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| 出版者 | ||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||||||||
