2クラスの発見難易度をもつソフトウェアエラーを考慮した指数 －S字形信頼度成長モデルの考察

• Item type: Journal(1)
• 公開日: 1992-11-15
• タイトル: 2クラスの発見難易度をもつソフトウェアエラーを考慮した指数 －S字形信頼度成長モデルの考察
• タイトル / 言語: en
• タイトル: An Exponential -S- shaped Software Reliability Growth Model with Two Classes of Error Detectability
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 論文
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
• 資源タイプ: journal article
• その他タイトル / その他のタイトル: 信頼性
• 著者所属: 広島大学大学院工学研究科システム工学専攻
• 著者所属: 広島大学工学部第二類（電気系）
• 著者所属: 広島大学工学部第二類（電気系）
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Industrial and Systems Engineering, Faculty of Engineering, Hiroshima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Industrial and Systems Engineering, Faculty of Engineering, Hiroshima University
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Department of Industrial and Systems Engineering, Faculty of Engineering, Hiroshima University
• 著者名: 木村, 光宏; 山田, 茂; 尾崎, 俊治
• 著者名(英): Mitsuhiro, Kimura; Shigeru, Yamada; Shunji, Osaki
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 開発過程あるいは運用段階にあるソフトウェアの信頼性を定宜的に評価するために 非同次ポアソン過程に基づくソフトウェア信頼度成長モデルがこれまでに数多く提案されてきた.これらのモデルの多くは ソフトウェア内に潜在しているエラーの発見・修正しやすさが すべてのエラーについて同等であるものとみなしているものが多い.この仮定はモデルの単純化には都合は良いが 実際のエラー発見・修正過程に対しては必ずしも十分なものではない.例えばよく掻観測されるように 発見された累積エラー数の成長曲線が テスト初期には指数形傾向を示し それ以降S字形傾向を示す場合には この仮定は不適切であり 新たにこの現象を記述するモデルを構築する必要があるこのことから本論文では ソマトウェア内に潜在するエラーをその発見.修正が容易なものと そうでないものとに区別し それぞれのエラー発見事象を相異なる非同次ポアソン過程により記述する.また それらの重ね合わせを用いて 実際に観測されるエラー発見事象をより的確に記述する新しいモデルを 指数-S字形ソフトウェア信頼度成長モデルとして提案する.さらに モデルパラメータ、の推定および信頼性評価の数値例を示し 既存のモデルとの適合性に関する比較を行う.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN00116647
• 書誌情報: 情報処理学会論文誌; 巻 33, 号 11, p. 1446-1452, 発行日 1992-11-15
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 1882-7764