| Item type |
Symposium(1) |
| 公開日 |
2015-08-31 |
| タイトル |
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タイトル |
CMMI成熟度レベル別に見たソフトウェア品質の良否に関わる要因の複合的分析 |
| タイトル |
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言語 |
en |
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タイトル |
A Compound Factor Analysis by CMMI Maturity Levels related to Success and Failure on Software Quality |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
実証的ソフトウェア工学 |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 |
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資源タイプ |
conference paper |
| 著者所属 |
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日本電気（株） |
| 著者所属 |
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東洋大学 |
| 著者所属 |
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日本電気（株） |
| 著者所属(英) |
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en |
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NEC Corporation |
| 著者所属(英) |
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en |
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Toyo University |
| 著者所属(英) |
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en |
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NEC Corporation |
| 著者名 |
柳田, 礼子
野中, 誠
誉田, 直美
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| 著者名(英) |
Reiko, Yanagida
Makoto, Nonaka
Naomi, Honda
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| 論文抄録 |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
ソフトウェア品質の良否に影響する要因の一つとしてCMMIで示される開発組織の能力がある．組織能力の成熟度レベルを効率よく上げるには，各成熟度レベルにおいてソフトウェア品質の良否に影響する要因を把握する必要がある．本論文では，商用ソフトウェア開発プロジェクト522件のデータを対象に，成熟度レベル別に分類木を構築し，有意差検定と相関分析を組み合わせてソフトウェア品質の良否に影響する要因を複合的に分析した．その結果，成熟度レベル1では開発規模，上工程バグ数/KL，および上工程バグ摘出率が良否を分ける要因と示された．成熟度レベル2では開発規模とテスト工程バグ数/KLが要因と示され，開発規模は成熟度レベル1の約4倍の境界値となった．成熟度レベル3では有意差検定の結果からテスト工程バグ数/KLが主たる要因と示された．成熟度レベル3では，テスト後半にバグが残存している場合にテスト工数が十分にかけられずに出荷後の品質が悪くなる傾向が確認された． |
| 論文抄録(英) |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
Organizational capability measured with CMMI is a promising factor to deliver high-quality software. To improve the maturity level of organizational capability, we should identify factors and their relationships affecting software quality by maturity levels. In this paper, the authors analyzed 522 commercial software development projects by using a classification tree method, statistical significance tests and correlational analysis. The result showed that development size, defect detection density in reviews, and defect detection rate before testing were identified as major factors in maturity level 1. In maturity level 2, development size and defect detection density in testing were identified as major factors, but the boundary of development size is four times larger than that in maturity level 1. In maturity level 3, defect detection density in testing was identified with significance tests. In this maturity level, the failed projects had more bugs remained in the latter stages of testing because of lack of testing effort. |
| 書誌情報 |
ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2015論文集
巻 2015,
p. 63-68,
発行日 2015-08-31
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| 出版者 |
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言語 |
ja |
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出版者 |
情報処理学会 |
IPSJ-SES2015015.pdf (371.2 kB)
