WEKO3
アイテム
高集積LSIに対するテスト生成高速化の一手法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/118883
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/1188838bfe39ba-656c-4fa2-bd18-eb158b813aa8
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00001338504.pdf (149.2 kB)
|
|
| Item type | National Convention(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1990-03-14 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 高集積LSIに対するテスト生成高速化の一手法 | |||||
| タイトル | ||||||
| 言語 | en | |||||
| タイトル | One method of accerelating test generation for highly integrated LSI | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)日立製作所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)日立製作所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)日立製作所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)日立製作所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)日立製作所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)日立製作所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)日立製作所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)日立製作所 | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Hitachi Ltd. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Hitachi Ltd. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Hitachi Ltd. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Hitachi Ltd. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Hitachi Ltd. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Hitachi Ltd. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Hitachi Ltd. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| Hitachi Ltd. | ||||||
| 論文抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | LSIの高集積化、大規模化に伴い、論理回路の診断は、回路全体を一括してテストする一括診断方式から、スキャン回路を前提とし、回路を分割してテストする分割診断方式が主流となってきた。しかし、分割診断方式では、スキャン回路やスキャン方式に関わる論理制約違反部のテストができない。本稿では、これらの問題を解決する一手法として、分割診断方式を主体として、スキャン回路専用のテスト生成システムや一括診断方式のテスト生成システムを併用するハイブリッド型のテスト生成システムを提案する. | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00349328 | |||||
| 書誌情報 |
全国大会講演論文集 巻 第40回, 号 ハードウェア, p. 1326-1327, 発行日 1990-03-14 |
|||||
| 出版者 | ||||||
| 言語 | ja | |||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||
