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アイテム
CMOS回路に適したBIST用テストパターン発生器
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/117916
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/1179167acd7c7d-fb0f-4406-81fc-ebb4d073d214
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00003118252.pdf (149.2 kB)
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| Item type | National Convention(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1989-10-16 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | CMOS回路に適したBIST用テストパターン発生器 | |||||
| タイトル | ||||||
| 言語 | en | |||||
| タイトル | A BIST Test-Pattern Generator for CMOS LSI | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||
| 著者所属 | ||||||
| 日本電気(株)C&Cシステム研究所 | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| C&C Systems Research Labs., NEC Corporation | ||||||
| 論文抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | LSIのテスト手法として有望視されているBISTのテストパターン発生器(TPG)としてLFSRがよく用いられる。被テスト回路が組合せ回路で冗長でなければ、原始多項式を生成多項式とするLFSRを用い、網羅的にパターンを印加することによって全てのstuck-at故障の検出が保証されるし、ハードウェアも簡単だからである。ところが、現在のLSIのキーテクノロジであるCMOS回路の場合、特有のstuck-open故障の存在により通常のLFSRではTPGとして不十分であるといわれている。stuck-open故障の存在により組合せ回路が順序回路的に変換され、その検出に連続する2パターンが必要となるからである。これまでにstuck-open故障を検出できるTPGがいくつか提案されているが、ハードウェアオーバヘッドが大きかったり、テストパターン数が多かったりと必ずしもBISTに適しているとはいいがたい。本稿ではBISTに適したハードウェアオーバヘッドの小さなTPGを提案する。 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00349328 | |||||
| 書誌情報 |
全国大会講演論文集 巻 第39回, 号 ハードウェア, p. 1722-1723, 発行日 1989-10-16 |
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| 出版者 | ||||||
| 言語 | ja | |||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||
