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アイテム
論理シミュレーション専用マシンを用いたテスト生成システムにおける高検出率化手法
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/117914
https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/records/117914b673d841-756f-4d27-9b97-7b292245679f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00003118250.pdf (166.2 kB)
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| Item type | National Convention(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 1989-10-16 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 論理シミュレーション専用マシンを用いたテスト生成システムにおける高検出率化手法 | |||||
| タイトル | ||||||
| 言語 | en | |||||
| タイトル | A method of coverage improvement for the test generation system using a logic simulation machine | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)富士通研究所 | ||||||
| 著者所属 | ||||||
| (株)富士通研究所 | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| FUJITSU LABORATORIES LTD. | ||||||
| 著者所属(英) | ||||||
| en | ||||||
| FUJITSU LABORATORIES LTD. | ||||||
| 論文抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 我々は,論理シミュレーション専用マシンSPを応用した,組合せ回路の単一縮退故障に対する高速な自動テスト生成システムを研究中である.本システムでは,図1に示すように,被検査回路(組合せ回路)と仮定故障リストを入力して「テスト生成回路」をホスト上で自動合成し,SPを用いてテスト生成回路の動作を高速に模擬することによテスト系列を自動生成する.テスト生成回路のアルゴリズムには乱数を入力パターンとするモードがあり,これをランダムパターン(RP)型と呼ぶ.また,入力空間の縦型探索を行うモードがある.これは,現在検査対象となっている故障がある入力に対して検出不能であるとき,入力をバックトラックするか,入力をそのままにして故障を取り替えるかを選択でき,前者を故障先行(FF)型,後者を入力先行(IF)型と呼ぶ.これまでに,RP型とIF型を実現して,その性能評価を行った.今回,さらに高い検出率を達成するためにFF型を実現し,アルゴリズムをRP型からFF型に切り換えて実験を行い有効性を確認した.また,入力の探索順序を故障に応じて動的に変更することでさらに高い検出率が得られることがわかった. | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00349328 | |||||
| 書誌情報 |
全国大会講演論文集 巻 第39回, 号 ハードウェア, p. 1718-1719, 発行日 1989-10-16 |
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| 出版者 | ||||||
| 言語 | ja | |||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||
