レジスタ転送レベルでのデータフロー依存型回路の階層テスト容易化設計法

• Item type: Journal(1)
• 公開日: 2002-05-15
• タイトル: レジスタ転送レベルでのデータフロー依存型回路の階層テスト容易化設計法
• タイトル / 言語: en
• タイトル: A Method of Design for Hierarchical Testability for Data Flow Intensive Circuits at Register Transfer Level
• 言語: jpn
• キーワード / 主題Scheme: Other
• キーワード / 主題: 特集：システムLSIの設計技術と設計自動化
• 資源タイプ / 資源タイプ識別子: http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
• 資源タイプ: journal article
• その他タイトル / その他のタイトル: テスト設計
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
• 著者所属: 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (NAIST)
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (NAIST)
• 著者所属(英): en
• 著者所属(英): Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology (NAIST)
• 著者名: 永井, 慎太郎; 大竹哲史; 藤原, 秀雄
• 著者名(英): Shintaro, Nagai; Satoshi, Ohtake; Hideo, Fujiwara
• 論文抄録 / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録 / 内容記述: 本論文では，コントローラの機能を考慮したデータパスの階層テスト容易化設計法を提案する．データパスの階層テスト生成法では，各回路要素に対してテスト生成およびテストプラン生成を行う．テストプランとは，外部入力から回路要素の入力へテストベクトルを正当化し，その応答を外部出力へ伝搬するための制御ベクトルの時系列をいう．提案手法では，拡張データフローグラフを用いてコントローラから制御ベクトル系列を抽出し，これを用いてテストプランを構成する．これにより，データパスへテストプランを供給するための付加回路の面積を小さくできる．提案手法はさらに，実動作速度でのテスト実行（at-speed test）が可能で，データパスに対して完全故障検出効率を保証できる．
• 論文抄録(英) / 内容記述タイプ: Other
• 論文抄録(英) / 内容記述: This paper proposes a non-scan DFT method for hierarchical testability of a register-transfer level data path using control vector sequences generated by an original controller. In hierarchical test generation, a test plan for each module in the data path is generated. The test plan consists of a control vector sequence that can justify any value to the inputs of the module under test from some primary inputs and can propagate its output value to a primary output. In order to generate a control vector sequence for a test plan from the original controller, we extract an extended test control data flow graph from the data path and the controller. In our proposed method, the area overhead for a hierarchically testable data path is smaller than our previous work since the area overhead for the test controller to supply such test plans to the data path is small. Furthermore, our proposed method can achieve complete fault efficiency and at-speed testing.
• 書誌レコードID / 収録物識別子タイプ: NCID
• 書誌レコードID / 収録物識別子: AN00116647
• 書誌情報: 情報処理学会論文誌; 巻 43, 号 5, p. 1278-1289, 発行日 2002-05-15
• ISSN / 収録物識別子タイプ: ISSN
• ISSN / 収録物識別子: 1882-7764